Wie man Hochgeschwindigkeits-Testvorrichtungen ausbaut

Modulares Abtastoszilloskop
+ Modulares Abtastoszilloskop

Entfernung von Vorrichtungseffekten aus Hochgeschwindigkeitsmessungen

Hochgeschwindigkeitsmessungen umfassen oft die kombinierte Reaktion des Prüflings und der verwendeten Prüfvorrichtungen, Kabel oder Messspitzen, was es schwierig macht, das tatsächliche elektrische Verhalten des Prüflings zu isolieren. Ingenieure, die mit Hochgeschwindigkeitsverbindungen in 400G-, 800G- und anderen Netzwerken arbeiten, müssen daher mit diesen komplexen Messverfahren umgehen. 1.6T Systeme müssen durch die Vorrichtung verursachte Verluste, Reflexionen und Verzerrungen eliminieren, um die Geräteperformance in der vorgesehenen Referenzebene genau zu bewerten.

Der De-Embedding-Prozess erfordert die Charakterisierung der S-Parameter des Messpfads mithilfe eines TDR/TDT-Moduls eines Abtastoszilloskops. Der Workflow wendet mathematische Korrekturverfahren an, um den Messpfadbeitrag aus der Gesamtantwort von Bauelement und Messpfad zu entfernen und die Referenzebene auf die Bauelementschnittstelle zu verschieben. Dies erfordert eine präzise Messpfadmodellierung, eine korrekte Portdefinition und validierte De-Embedding-Verfahren.

Lösung zum Ausbetten von Testvorrichtungen

Das De-Embedding von Hochgeschwindigkeits-Testvorrichtungen erfordert die Charakterisierung des Prüfvorrichtungspfads und dessen mathematische Entfernung aus der gemessenen Antwort, um das tatsächliche Geräteverhalten an der vorgesehenen Referenzebene zu ermitteln. Die Keysight-Lösung zum De-Embedding von Testvorrichtungen umfasst ein modulares Abtastoszilloskop mit einem TDR/TDT-Modul sowie eine Software zur Signalintegritätsanalyse, die die automatische Entfernung der Prüfvorrichtung und die S-Parameter-basierte Korrektur unterstützt. Der Workflow ermöglicht es Ingenieuren, Prüfvorrichtungsmodelle anzuwenden, Ports neu zuzuordnen und die Referenzebene auf die Geräteschnittstelle zu verschieben, um Roh- und korrigierte Ergebnisse zu vergleichen und die Geräteperformance von prüfvorrichtungsbedingten Effekten zu isolieren.

Siehe das Blockdiagramm unserer Lösung zum Ausbetten von Testvorrichtungen.

Blockdiagramm unserer De-Embedding-Lösung für Testvorrichtungen

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