Como desmontar dispositivos de teste de alta velocidade

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Remover os efeitos do dispositivo de fixação das medições em alta velocidade

As medições em alta velocidade frequentemente incluem a resposta combinada do dispositivo em teste e dos dispositivos de fixação, cabos ou sondas utilizados para acessá-lo, o que dificulta isolar o verdadeiro comportamento elétrico do dispositivo. Os engenheiros que trabalham com interconexões de alta velocidade em sistemas de 400G, 800G e 1,6T devem eliminar as perdas, reflexões e distorções induzidas pelos dispositivos de fixação para avaliar com precisão o desempenho do dispositivo no plano de referência pretendido.

O processo de desembedimento requer a caracterização dos parâmetros S do caminho do dispositivo de fixação por meio de um módulo TDR/TDT de um osciloscópio de amostragem. O fluxo de trabalho aplica técnicas de correção matemática para remover a contribuição do dispositivo de fixação da resposta composta do dispositivo mais o dispositivo de fixação e deslocar o plano de referência para a interface do dispositivo. Isso requer uma modelagem precisa do dispositivo de fixação, uma definição adequada das portas e técnicas de desembedimento validadas.

Solução para remoção de embebimento de dispositivos de teste

A remoção do efeito do dispositivo de teste em testes de alta velocidade requer a caracterização do caminho do dispositivo de teste e sua remoção matemática da resposta medida, a fim de recuperar o comportamento real do dispositivo no plano de referência pretendido. A solução da Keysight para remoção do efeito do dispositivo de teste inclui um osciloscópio de amostragem modular com um módulo TDR/TDT e um software de integridade de sinal que oferece suporte à remoção automática do efeito do dispositivo de teste e à correção baseada em parâmetros S. O fluxo de trabalho permite que os engenheiros apliquem modelos de dispositivo de teste, reatribuam portas e desloquem o plano de referência para a interface do dispositivo, para que possam comparar resultados brutos e corrigidos e isolar o desempenho do dispositivo dos efeitos induzidos pelo dispositivo de teste.
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