Cómo desmontar los dispositivos de prueba de alta velocidad

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Eliminar los efectos de la montura en las mediciones a alta velocidad

Las mediciones de alta velocidad suelen incluir la respuesta combinada del dispositivo sometido a prueba y de los soportes de prueba, cables o sondas utilizados para acceder a él, lo que dificulta aislar el verdadero comportamiento eléctrico del dispositivo. Los ingenieros que trabajan con interconexiones de alta velocidad en sistemas de 400G, 800G y 1,6T deben eliminar las pérdidas, los reflejos y la distorsión inducidos por los soportes para evaluar con precisión el rendimiento del dispositivo en el plano de referencia previsto.

El proceso de desincrustación requiere caracterizar los parámetros S de la ruta del accesorio mediante un módulo TDR/TDT de un osciloscopio de muestreo. El flujo de trabajo aplica técnicas de corrección matemática para eliminar la contribución del accesorio de la respuesta combinada del dispositivo y el accesorio, y desplazar el plano de referencia hasta la interfaz del dispositivo. Para ello es necesario contar con un modelado preciso del accesorio, una definición adecuada de los puertos y técnicas de desincrustación validadas.

Solución para la desincrustación de dispositivos de prueba

La desincrustación de los dispositivos de prueba de alta velocidad requiere caracterizar la trayectoria del dispositivo de prueba y eliminarla matemáticamente de la respuesta medida para recuperar el comportamiento real del dispositivo en el plano de referencia previsto. La solución de desincrustación de dispositivos de prueba de Keysight incluye un osciloscopio de muestreo modular con un módulo TDR/TDT y un software de integridad de señal que admite la eliminación automática del dispositivo de prueba y la corrección basada en parámetros S. Este flujo de trabajo permite a los ingenieros aplicar modelos de dispositivo de prueba, reasignar puertos y desplazar el plano de referencia a la interfaz del dispositivo, de modo que puedan comparar los resultados sin procesar y los corregidos, y aislar el rendimiento del dispositivo de los efectos inducidos por el dispositivo de prueba.
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