Come rimuovere i dispositivi di fissaggio per test ad alta velocità

Oscilloscopio modulare a campionamento
+ Oscilloscopio modulare a campionamento

Eliminazione degli effetti delle apparecchiature dalle misurazioni ad alta velocità

Le misurazioni ad alta velocità spesso includono la risposta combinata del dispositivo in prova e dei dispositivi di fissaggio, dei cavi o delle sonde utilizzati per accedervi, rendendo difficile isolare il vero comportamento elettrico del dispositivo. Gli ingegneri che lavorano con interconnessioni ad alta velocità in sistemi a 400G, 800G e 1,6T devono eliminare le perdite, le riflessioni e le distorsioni indotte dai dispositivi di fissaggio per valutare con precisione le prestazioni del dispositivo sul piano di riferimento previsto.

Il processo di de-embedding richiede la caratterizzazione dei parametri S del percorso del fixture mediante un modulo TDR/TDT di un oscilloscopio a campionamento. Il flusso di lavoro applica tecniche di correzione matematica per rimuovere il contributo del fixture dalla risposta composita del dispositivo più il fixture e spostare il piano di riferimento sull'interfaccia del dispositivo. Ciò richiede una modellazione accurata del fixture, una corretta definizione delle porte e tecniche di de-embedding convalidate.

Soluzione per il de-embedding dei dispositivi di test

Il de-embedding dei fixture di test ad alta velocità richiede la caratterizzazione del percorso del fixture e la sua rimozione matematica dalla risposta misurata, al fine di recuperare il comportamento reale del dispositivo sul piano di riferimento previsto. La soluzione di de-embedding dei fixture di test di Keysight include un oscilloscopio di campionamento modulare con un modulo TDR/TDT e un software per l’integrità del segnale che supporta la rimozione automatica del fixture e la correzione basata sui parametri S. Il flusso di lavoro consente agli ingegneri di applicare modelli di dispositivo di prova, riassegnare le porte e spostare il piano di riferimento sull’interfaccia del dispositivo, in modo da poter confrontare i risultati grezzi e quelli corretti e isolare le prestazioni del dispositivo dagli effetti indotti dal dispositivo di prova.

Guarda lo schema a blocchi della nostra soluzione di de-embedding per apparecchiature di collaudo

Schema a blocchi della nostra soluzione di de-embedding per apparecchiature di collaudo

Scopri i prodotti della nostra soluzione di apparecchiature di test per il de-embedding

Casi d'uso correlati

contattaci logo

Mettetevi in contatto con uno dei nostri esperti

Avete bisogno di aiuto per trovare la soluzione giusta per voi?