Come caratterizzare l'impedenza TDR

Oscilloscopio modulare a campionamento
+ Oscilloscopio modulare a campionamento

Caratterizzazione dell'impedenza di interconnessione con un oscilloscopio a campionamento

La riflettometria nel dominio del tempo (TDR) viene utilizzata per caratterizzare l’uniformità dell’impedenza e individuare le discontinuità nelle interconnessioni ad alta velocità, quali le tracce dei circuiti stampati, i contenitori, i connettori e i cavi impiegati nei sistemi a 400G, 800G e 1,6T. Gli ingegneri si affidano alle misurazioni TDR per identificare disadattamenti di impedenza, riflessioni e ritardi di propagazione che compromettono l’integrità del segnale; tuttavia, un’analisi accurata richiede uno stimolo a fronte di fronte, un piano di riferimento ben definito e un’acquisizione ad alta fedeltà dei segnali riflessi.

La misurazione viene eseguita utilizzando un oscilloscopio a campionamento e un modulo TDR/TDT che genera uno stimolo a gradino calibrato e acquisisce i segnali riflessi. Le riflessioni vengono convertite in impedenze in funzione del tempo o della distanza, consentendo agli ingegneri di individuare le discontinuità e determinare se le caratteristiche presentano un comportamento induttivo o capacitivo. Ciò richiede un controllo preciso del fronte dello stimolo, una definizione coerente del piano di riferimento e una risoluzione temporale sufficiente per distinguere strutture fisiche ravvicinate.

Soluzione per la caratterizzazione dell'impedenza TDR

La caratterizzazione dell’impedenza tramite riflettometria nel dominio del tempo (TDR) richiede l’invio di un impulso calibrato ad alta velocità nell’interconnessione e la misurazione delle riflessioni per determinare le variazioni di impedenza in funzione del tempo o della distanza. La soluzione di Keysight per la caratterizzazione dell’impedenza TDR comprende un oscilloscopio modulare con testa di campionamento remota TDR/TDT e un software per l’integrità del segnale dedicato all’analisi del profilo di impedenza. Il flusso di lavoro consente agli ingegneri di identificare discontinuità, misurare il ritardo di propagazione e isolare le caratteristiche fisiche all’interno dell’interconnessione, mantenendo al contempo un’elevata risoluzione di misura grazie all’accesso al segnale in prossimità del dispositivo.

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