TDRインピーダンスの特性評価方法

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サンプリング型オシロスコープを用いた相互接続インピーダンスの特性評価

時間領域反射法（TDR）は、400G、800G、および1.6Tシステムで使用されるプリント基板の配線、パッケージ、コネクタ、ケーブルなどの高速相互接続において、インピーダンスの均一性を評価し、不連続箇所を特定するために使用されます。 エンジニアは、信号の完全性を損なうインピーダンスの不整合、反射、伝搬遅延を特定するためにTDR測定に依存していますが、正確な解析を行うには、立ち上がり時間の短い刺激信号、明確に定義された基準面、および反射信号の高忠実度な取得が必要です。

測定は、サンプリングオシロスコープと、校正済みのステップ刺激信号を生成し、反射信号を捕捉するTDR/TDTモジュールを用いて行われます。反射信号は、インピーダンス対時間または距離の波形に変換され、これによりエンジニアは不連続箇所を特定し、各構造が誘導性または容量性の挙動を示すかどうかを判断することができます。これには、刺激信号のエッジの精密な制御、一貫した基準面の定義、および間隔の狭い物理構造を分解能で捉えるための十分な時間分解能が必要となります。

TDRインピーダンス特性評価ソリューション

時間領域反射法（TDR）によるインピーダンスの特性評価を行うには、校正済みの高速ステップ信号をインターコネクトに注入し、反射波を測定して、時間または距離に対するインピーダンスの変化を特定する必要があります。キーサイトのTDRインピーダンス特性評価ソリューションには、TDR/TDTリモートサンプリングヘッドを備えたモジュラー型サンプリングオシロスコープと、インピーダンスプロファイル解析用のシグナルインテグリティソフトウェアが含まれています。 このワークフローにより、エンジニアは、デバイスに近い位置から信号にアクセスすることで高い測定分解能を維持しつつ、不連続部の特定、伝搬遅延の測定、および配線内の物理的特徴の特定を行うことができます。
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