TDRインピーダンスの特性評価方法

モジュラー式サンプリングオシロスコープ
+ モジュラーサンプリングオシロスコープ

サンプリング・オシロスコープによるインターコネクト・インピーダンスの特性評価

TDR(タイムドメイン・リフレクトメトリ)は、400G、800G、1.6Tシステムで使用されるプリント基板トレース、パッケージ、コネクタ、ケーブルなどの高速インターコネクトにおいて、インピーダンスの均一性を評価し、不連続点を特定するために使用されます。エンジニアはTDR測定を利用して、シグナル・インテグリティを低下させるインピーダンスの不整合、反射、伝搬遅延を特定しますが、正確な解析には、高速エッジの刺激信号、明確に定義された基準面、および反射信号の高忠実度な取り込みが必要です。

測定は、校正されたステップ刺激信号を生成し、反射信号を取り込むサンプリング・オシロスコープおよびTDR/TDTモジュールを使用して実行されます。反射信号は時間または距離に対するインピーダンスに変換されるため、エンジニアは不連続点を特定し、特性が誘導性または容量性のどちらの挙動を示しているかを判断できます。これには、刺激信号エッジの正確な制御、一貫した基準面の定義、および近接した物理的構造を分離するための十分な時間分解能が必要となります。

TDRインピーダンス特性評価ソリューション

タイムドメイン・リフレクトメトリのインピーダンス特性評価では、インターコネクトに高速で校正されたステップ信号を入力し、反射を測定して、時間または距離に対するインピーダンスの変化を求めます。キーサイトのTDRインピーダンス特性評価ソリューションには、TDR/TDTリモート・サンプリング・ヘッドを備えたモジュラー・サンプリング・オシロスコープと、インピーダンス・プロファイル解析用のシグナル・インテグリティ・ソフトウェアが含まれています。このワークフローにより、エンジニアは、デバイス近傍での信号アクセスを通じて高い測定分解能を維持しながら、インターコネクト内の不連続点の特定、伝搬遅延の測定、物理的特徴の分離を行うことができます。

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