如何量測 TDR 阻抗

模組化採樣示波器
+ 模組化取樣示波器

使用採樣示波器表徵互連阻抗

時域反射測量法(TDR)用於評估高速度互連(例如用於 400G、800G 及 1.6T 系統的印刷電路板走線、封裝、連接器及纜線)的阻抗均勻性,並定位其中存在的間斷點。 工程師仰賴 TDR 測量來識別會降低訊號完整性的阻抗失配、反射及傳播延遲,但要進行精確分析,則需要快速邊沿刺激訊號、明確界定的參考平面,以及對反射訊號的高保真度擷取。

此測量是透過採樣示波器與 TDR/TDT 模組進行,該模組可產生經校準的階躍激勵訊號並擷取反射訊號。反射訊號會被轉換為阻抗隨時間或距離的變化曲線,讓工程師能夠定位不連續點,並判斷特定結構是否呈現感性或容性行為。這需要精確控制激勵訊號的邊沿、一致的參考平面定義,以及足夠的時間解析度,以分辨間距極近的物理結構。

TDR 阻抗特性分析解決方案

要對時域反射法(TDR)阻抗進行特性分析,必須將一個經過校準的快速階躍信號注入互連結構中,並測量反射訊號,以確定阻抗隨時間或距離的變化。是德科技(Keysight)的 TDR 阻抗特性分析解決方案包含一台配備 TDR/TDT 遠端採樣頭的模組化採樣示波器,以及用於阻抗輪廓分析的訊號完整性軟體。 此工作流程使工程師能夠識別不連續點、測量傳播延遲,並在互連結構中隔離物理特徵,同時透過接近元件的訊號存取方式,維持高測量解析度。

請參閱我們的 TDR 阻抗特性分析解決方案的方塊圖

本公司 TDR 阻抗特性分析解決方案的方塊圖

探索我們 TDR 阻抗特性分析解決方案中的產品

相關應用案例

聯絡我們標誌

聯絡我們的一位專家

需要協助尋找適合您的解決方案嗎?