如何量測 TDR 阻抗

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使用取樣示波器特性化互連阻抗

時域反射計（TDR）可用於特性化阻抗均勻性，並定位 400G、800G 和 1.6T 系統中所使用的印刷電路板走線、封裝、連接器和纜線等高速互連中的不連續性。工程師依賴 TDR 量測來識別會降低信號完整性的阻抗不匹配、反射和傳播延遲，但精確的分析需要快速邊緣激發源、定義完善的參考平面，以及對反射信號的高擬真度擷取。

此量測是使用取樣示波器和 TDR/TDT 模組來執行，該模組可產生已校驗的階躍激發並擷取反射信號。反射信號會轉換為阻抗對時間或距離的關係圖，讓工程師能夠定位不連續性，並判斷元件展現出電感性還是電容性行為。這需要精確控制激發邊緣、一致的參考平面定義，以及足以解析緊密間距實體結構的時間解析度。

TDR 阻抗特性分析解決方案

特性化時域反射計阻抗需要在互連中發送快速已校驗階躍，並量測反射以決定阻抗隨時間或距離的變化。Keysight 的 TDR 阻抗特性化解決方案包含具備 TDR/TDT 遠端取樣前端的模組化取樣示波器，以及用於阻抗剖析分析的信號完整性軟體。此工作流程使工程師能夠識別不連續性、量測傳播延遲，並隔離互連內的實體特徵，同時透過近距離裝置信號接取維持高量測解析度。
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