Wie man die TDR-Impedanz charakterisiert

Modulares Abtastoszilloskop
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Charakterisierung der Verbindungsimpedanz mit einem Abtastoszilloskop

Die Zeitbereichsreflektometrie (TDR) wird verwendet, um die Impedanzhomogenität zu charakterisieren und Diskontinuitäten in Hochgeschwindigkeitsverbindungen wie Leiterbahnen auf Leiterplatten, Gehäusen, Steckverbindern und Kabeln, die in 400G-, 800G- und 5G-Netzen verwendet werden, zu lokalisieren. 1.6T Systeme. Ingenieure verlassen sich auf TDR-Messungen, um Impedanzfehlanpassungen, Reflexionen und Laufzeitverzögerungen zu identifizieren, die die Signalintegrität beeinträchtigen. Für eine genaue Analyse sind jedoch ein schnell ansteigender Stimulus, eine genau definierte Referenzebene und eine hochpräzise Erfassung der reflektierten Signale erforderlich.

Die Messung erfolgt mit einem Abtastoszilloskop und einem TDR/TDT-Modul, das einen kalibrierten Impuls erzeugt und die reflektierten Signale erfasst. Die Reflexionen werden in Impedanz-Zeit- oder Weg-Kennlinien umgewandelt, wodurch Ingenieure Diskontinuitäten lokalisieren und feststellen können, ob Strukturen induktives oder kapazitives Verhalten aufweisen. Dies erfordert eine präzise Steuerung der Impulsflanke, eine konsistente Definition der Referenzebene und eine ausreichende zeitliche Auflösung, um eng beieinander liegende Strukturen aufzulösen.

TDR-Impedanzcharakterisierungslösung

Die Charakterisierung der Impedanz mittels Zeitbereichsreflektometrie (TDR) erfordert das Auslösen eines schnellen, kalibrierten Impulses in der Verbindungsleitung und die Messung der Reflexionen, um Impedanzänderungen über Zeit oder Entfernung zu bestimmen. Die TDR-Impedanzcharakterisierungslösung von Keysight umfasst ein modulares Abtastoszilloskop mit einem TDR/TDT-Fernabtastkopf und eine Software zur Signalintegritätsanalyse für die Impedanzprofilanalyse. Dieser Workflow ermöglicht es Ingenieuren, Diskontinuitäten zu identifizieren, Laufzeitverzögerungen zu messen und physikalische Merkmale innerhalb der Verbindungsleitung zu isolieren, während gleichzeitig durch den gerätenahen Signalzugriff eine hohe Messauflösung gewährleistet wird.

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