Cómo caracterizar la impedancia TDR
Caracterización de la impedancia de interconexión con un osciloscopio de muestreo
La reflectometría en el dominio del tiempo (TDR) se utiliza para caracterizar la uniformidad de la impedancia y localizar discontinuidades en interconexiones de alta velocidad, como las pistas de placas de circuito impreso, los encapsulados, los conectores y los cables utilizados en sistemas de 400G, 800G y 1,6T. Los ingenieros se basan en las mediciones de TDR para identificar desajustes de impedancia, reflexiones y retrasos de propagación que deterioran la integridad de la señal, pero un análisis preciso requiere un estímulo de flanco rápido, un plano de referencia bien definido y una adquisición de alta fidelidad de las señales reflejadas.
La medición se realiza con un osciloscopio de muestreo y un módulo TDR/TDT que genera un estímulo escalonado calibrado y captura las señales reflejadas. Las reflexiones se convierten en una curva de impedancia en función del tiempo o la distancia, lo que permite a los ingenieros localizar discontinuidades y determinar si los elementos presentan un comportamiento inductivo o capacitivo. Para ello es necesario un control preciso del flanco del estímulo, una definición coherente del plano de referencia y una resolución temporal suficiente para distinguir estructuras físicas muy próximas entre sí.
Solución para la caracterización de la impedancia TDR
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Unidad central del osciloscopio de amplio ancho de banda N1000A DCA-X
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N1055A, 35/50 GHz, 2/4 puertos, módulo de cabezal de muestreo remoto TDR/TDT
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N1010300A Paquete de integridad de señal para el software del osciloscopio de muestreo FlexDCA
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