Cómo caracterizar la impedancia TDR

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Caracterización de la impedancia de interconexión con un osciloscopio de muestreo

La reflectometría en el dominio del tiempo (TDR) se utiliza para caracterizar la uniformidad de la impedancia y localizar discontinuidades en interconexiones de alta velocidad, como las pistas de placas de circuito impreso, los encapsulados, los conectores y los cables utilizados en sistemas de 400G, 800G y 1,6T. Los ingenieros se basan en las mediciones de TDR para identificar desajustes de impedancia, reflexiones y retrasos de propagación que deterioran la integridad de la señal, pero un análisis preciso requiere un estímulo de flanco rápido, un plano de referencia bien definido y una adquisición de alta fidelidad de las señales reflejadas.

La medición se realiza con un osciloscopio de muestreo y un módulo TDR/TDT que genera un estímulo escalonado calibrado y captura las señales reflejadas. Las reflexiones se convierten en una curva de impedancia en función del tiempo o la distancia, lo que permite a los ingenieros localizar discontinuidades y determinar si los elementos presentan un comportamiento inductivo o capacitivo. Para ello es necesario un control preciso del flanco del estímulo, una definición coherente del plano de referencia y una resolución temporal suficiente para distinguir estructuras físicas muy próximas entre sí.

Solución para la caracterización de la impedancia TDR

Para caracterizar la impedancia mediante reflectometría en el dominio del tiempo (TDR) es necesario enviar un pulso rápido y calibrado a la interconexión y medir las reflexiones con el fin de determinar las variaciones de impedancia en función del tiempo o la distancia. La solución de caracterización de impedancia TDR de Keysight incluye un osciloscopio de muestreo modular con un cabezal de muestreo remoto TDR/TDT y software de integridad de señal para el análisis del perfil de impedancia. Este flujo de trabajo permite a los ingenieros identificar discontinuidades, medir el retardo de propagación y aislar características físicas dentro de la interconexión, al tiempo que se mantiene una alta resolución de medición gracias al acceso a la señal cerca del dispositivo.
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