Como caracterizar a impedância do TDR

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Caracterizar a impedância de interconexão com um osciloscópio de amostragem

A refletometria no domínio do tempo (TDR) é utilizada para caracterizar a uniformidade da impedância e localizar descontinuidades em interconexões de alta velocidade, tais como traços de placas de circuito impresso, pacotes, conectores e cabos utilizados em sistemas de 400G, 800G e 1,6T. Os engenheiros contam com as medições de TDR para identificar incompatibilidades de impedância, reflexões e atrasos de propagação que prejudicam a integridade do sinal; no entanto, uma análise precisa requer um estímulo de flanco rápido, um plano de referência bem definido e a aquisição de alta fidelidade dos sinais refletidos.

A medição é realizada com um osciloscópio de amostragem e um módulo TDR/TDT que gera um estímulo escalonado calibrado e captura os sinais refletidos. As reflexões são convertidas em impedância em função do tempo ou da distância, permitindo que os engenheiros localizem descontinuidades e determinem se os elementos apresentam comportamento indutivo ou capacitivo. Isso requer um controle preciso da borda do estímulo, uma definição consistente do plano de referência e resolução temporal suficiente para distinguir estruturas físicas muito próximas umas das outras.

Solução para caracterização de impedância TDR

A caracterização da impedância por refletometria no domínio do tempo (TDR) requer o envio de um pulso calibrado e rápido para a interconexão e a medição das reflexões, a fim de determinar as variações de impedância em função do tempo ou da distância. A solução de caracterização de impedância TDR da Keysight inclui um osciloscópio de amostragem modular com um cabeçote de amostragem remoto TDR/TDT e um software de integridade de sinal para análise do perfil de impedância. O fluxo de trabalho permite que os engenheiros identifiquem descontinuidades, meçam o atraso de propagação e isolem características físicas na interconexão, mantendo alta resolução de medição por meio do acesso ao sinal próximo ao dispositivo.
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