고속 테스트 고정구를 분리하는 방법

모듈형 샘플링 오실로스코프
+ 모듈형 샘플링 오실로스코프

고속 측정에서 픽스처 효과 제거

고속 측정에는 피시험 기기(DUT)와 이에 접근하는 데 사용되는 테스트 픽스처, 케이블 또는 프로브의 결합된 응답이 포함되는 경우가 많아 기기의 진정한 전기적 거동을 격리하기 어렵습니다. 400G, 800G 및 1.6T 시스템의 고속 인터커넥트를 다루는 엔지니어는 의도된 기준면에서 기기 성능을 정확하게 평가하기 위해 픽스처로 인한 손실, 반사 및 왜곡을 제거해야 합니다.

디임베딩 프로세스에는 샘플링 오실로스코프의 TDR/TDT 모듈을 사용하여 픽스처 경로의 S-파라미터를 특성화하는 작업이 필요합니다. 이 워크플로는 수학적 보정 기법을 적용하여 복합적인 기기-픽스처 결합 응답에서 픽스처 기여도를 제거하고 기준면을 기기 인터페이스로 이동시킵니다. 이를 위해서는 정확한 픽스처 모델링, 적절한 포트 정의, 그리고 검증된 디임베딩 기법이 필요합니다.

테스트 픽스처 디임베딩 솔루션

고속 테스트 픽스처 디임베딩을 위해서는 픽스처 경로를 특성화하고 측정된 응답에서 수학적으로 제거하여 의도된 기준면에서 진정한 기기 거동을 복원해야 합니다. 키사이트 테스트 픽스처 디임베딩 솔루션에는 TDR/TDT 모듈이 포함된 모듈형 샘플링 오실로스코프와 자동 픽스처 제거 및 S-파라미터 기반 보정을 지원하는 신호 무결성 소프트웨어가 포함되어 있습니다. 이 워크플로를 통해 엔지니어는 픽스처 모델을 적용하고, 포트를 재할당하며, 기준면을 기기 인터페이스로 이동하여 원본 결과와 보정된 결과를 비교하고 픽스처로 인한 영향으로부터 기기 성능을 격리할 수 있습니다.

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