고속 테스트 고정구를 분리하는 방법

모듈형 샘플링 오실로스코프
+ 모듈형 샘플링 오실로스코프

고속 측정에서 고정구 효과를 제거하기

고속 측정에는 종종 피측정 소자와 이를 연결하는 데 사용되는 테스트 고정구, 케이블 또는 프로브의 복합적인 응답이 포함되므로, 소자의 실제 전기적 거동을 분리하여 파악하기 어렵습니다. 400G, 800G 및 1.6T 시스템의 고속 상호 연결을 다루는 엔지니어들은 의도된 기준면에서 소자의 성능을 정확하게 평가하기 위해 고정구로 인한 손실, 반사 및 왜곡을 제거해야 합니다.

디임베딩 과정에서는 샘플링 오실로스코프의 TDR/TDT 모듈을 사용하여 피스처 경로의 S-파라미터를 특성화해야 합니다. 이 워크플로에서는 수학적 보정 기법을 적용하여, 소자와 피스처가 결합된 복합 응답에서 피스처의 영향을 제거하고 기준면을 소자 인터페이스로 이동시킵니다. 이를 위해서는 정확한 피스처 모델링, 적절한 포트 정의, 그리고 검증된 디임베딩 기법이 필요합니다.

테스트 픽스처 디임베딩 솔루션

고속 테스트 피처의 디임베딩을 수행하려면 피처 경로를 특성화하고, 측정된 응답에서 이를 수학적으로 제거하여 의도된 기준면에서 실제 디바이스 동작을 복원해야 합니다. 키사이트의 테스트 피처 디임베딩 솔루션에는 TDR/TDT 모듈이 탑재된 모듈형 샘플링 오실로스코프와, 자동 피처 제거 및 S-파라미터 기반 보정을 지원하는 신호 무결성 소프트웨어가 포함되어 있습니다. 이 워크플로를 통해 엔지니어는 피그먼트 모델을 적용하고, 포트를 재할당하며, 기준면을 소자 인터페이스로 이동시켜 원본 결과와 보정된 결과를 비교하고, 피그먼트로 인한 영향에서 소자 성능을 분리해 낼 수 있습니다.

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