Comment désintégrer les montages de test à haute vitesse

Oscilloscope à échantillonnage modulaire
+ Oscilloscope à échantillonnage modulaire

Supprimer les effets liés au montage lors des mesures à grande vitesse

Les mesures à haute vitesse incluent souvent la réponse combinée du dispositif testé et des montages de test, câbles ou sondes utilisés pour y accéder, ce qui rend difficile l’isolation du véritable comportement électrique du dispositif. Les ingénieurs travaillant sur des interconnexions à haute vitesse dans des systèmes 400G, 800G et 1,6T doivent éliminer les pertes, les réflexions et les distorsions induites par les montages de test afin d’évaluer avec précision les performances du dispositif au niveau du plan de référence prévu.

Le processus de désembedding nécessite de caractériser les paramètres S du chemin du dispositif de test à l'aide d'un module TDR/TDT d'un oscilloscope à échantillonnage. Le processus applique des techniques de correction mathématiques pour éliminer la contribution du dispositif de test de la réponse combinée du dispositif et du dispositif de test, et pour décaler le plan de référence vers l'interface du dispositif. Cela nécessite une modélisation précise du dispositif de test, une définition correcte des ports et des techniques de désembedding validées.

Solution de désembedding pour montages de test

La désembeddement des montages de test à haute vitesse nécessite de caractériser le tracé du montage et de le soustraire mathématiquement de la réponse mesurée afin de restituer le comportement réel du dispositif au niveau du plan de référence prévu. La solution de désembeddement des montages de test de Keysight comprend un oscilloscope d'échantillonnage modulaire équipé d'un module TDR/TDT, ainsi qu'un logiciel d'intégrité du signal prenant en charge la suppression automatique du montage et la correction basée sur les paramètres S. Ce flux de travail permet aux ingénieurs d'appliquer des modèles de montage, de réaffecter les ports et de décaler le plan de référence vers l'interface du dispositif, afin de pouvoir comparer les résultats bruts et corrigés et d'isoler les performances du dispositif des effets induits par le montage.

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