如何利用高通道密度示波器自動化製造過程的合格／不合格測試

+ 基礎型示波器

驗證跨產線測試點的訊號品質

自動化製造 Pass / Fail（合格／不合格）測試需要在多個測試點套用一致的量測檢查，同時識別可能僅在特定生產序列期間出現的瑕疵。在組裝線上，工程師需要在同一個測試週期內監控電源、控制、時序和輸出訊號，以判定電子組件是否符合規定的品質要求。分別測試這些訊號可能會使識別故障根源變得困難，特別是在非預期事件僅發生一次或取決於其他訊號時序的情況下。高通道密度量測方法可讓工程師在同一個生產週期內監控多個訊號，並透過同步示波器在需要額外測試點時擴展覆蓋範圍。這提供了調查電源暫態、遺漏致能訊號、延遲回應和訊號品質問題所需的時序脈絡。

執行此測試需要具備自動化波形擷取以及跨多個測試點進行 Pass / Fail 量測能力的示波器。當需要更大的通道覆蓋範圍時，工程師可以透過共用參考時脈和協同觸發來同步多台示波器。製造測試程式可管理自動化測試序列與整體的 Pass / Fail 判定標準，而示波器則在每個生產週期中擷取波形。當使用多部儀器時，即時分析軟體會將同步的類比通道整合至統一的顯示畫面中，讓工程師能夠將失敗的量測結果與組件中其他地方先前的訊號行為進行相互關聯。內建工具（如遮罩測試和故障尋找工具）有助於識別波形偏差與間歇性訊號問題，而透過可程式化儀器標準指令（SCPI）進行的遠端示波器控制則將訊號擷取整合至製造測試程式中。此方法支援可重複的產生產線測試，並有助於工程師更有效率地調查故障。

製造測試自動化解決方案

自動化製造 Pass / Fail 測試需要具備可重複訊號擷取、波形極限測試和遠端控制功能的示波器。Keysight 基礎型示波器結合了 14 位元類比數位轉換器（ADC）以及每 1U 機架空間四個類比通道，而被動探棒則可從電子組件各處的多個測試點擷取電壓訊號。內建遮罩測試會自動將擷取的波形與預先定義的極限進行比較，以識別訊號偏差並判定波形層級的 Pass / Fail 結果，同時 Fault Hunter（故障尋找工具）會根據使用者定義的標準評估訊號特性，以偵測、擷取並調查原本可能被忽略的間歇性異常狀況。

隨著通道需求的增加，工程師可以新增同步示波器，並使用共用的 10 MHz 參考時脈、協同觸發以及跨儀器傾斜校正（deskew）來保持示波器之間的時序關係。基於 PC 的即時分析軟體可整合來自多台示波器的類比波形以進行同步多訊號檢視，而遠端 SCPI 控制則將訊號擷取與量測整合至生產工作站中。製造測試程式負責管理序列並判定最終的組件層級 Pass / Fail 結果。這些功能共同支援在精巧型自動化測試設備（ATE）中進行可重複的品質檢查與高效能故障排除。

索取報價