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測量探棒是側信道分析的基礎組件,可讓安全工程師擷取裝置在運作期間產生的功耗與電磁輻射。這些實體訊號可能包含與內部運算相關聯的資訊,對於識別可能洩漏敏感資料或暴露密碼學實作弱點的洩漏現象極具價值。
在整個安全性評估過程中,測量探棒可協助研究人員與開發團隊調查潛在弱點、驗證已實作之對策的有效性,並評估嵌入式裝置對側信道攻擊的韌性。透過洞察裝置的實際行為,它們能讓我們更深入了解硬體與軟體在安全性關鍵運作期間的互動方式。
測量探棒同時支援功耗分析與電磁分析方法,廣泛用於評估安全元件、智慧卡、微控制器、FPGA、晶片系統 (SoC) 裝置以及其他嵌入式技術。無論是用於弱點研究、認證準備、產品開發還是安全性測試,高品質的訊號擷取都是進行準確且可重複之側信道分析的基礎。
測量裝置功耗的微小變化,以識別洩漏並支援功耗分析評估。
以精確且可重複的旁路攻擊分析所需的靈敏度和精確度,來擷取低振幅訊號。
產品類型
Passive current probe, Active current probe, High precision electromagnetic probe
頻寬
1 MHz - 1 GHz 至 Up to 6 GHz
Connector type
SMA, BNC / SMB
最大 rms 電流
90 mA AC 至 100 mA AC
Technology
Device Security
高精度電磁探針是一種用於側通道分析的高度靈敏探針,可拾取半導體電路發出的電磁輻射。該探針具有一種機制,可讓您更換三種不同尺寸的探針尖端:0.2 毫米、0.5 毫米和 1.25 毫米。所有尖端均具有定向線圈和保護性鐵氟龍外殼。通常與 XYZ 運動平台結合使用,該探針可以拾取高達 6 GHz 頻率的電磁場,並將其轉換為交流訊號。
DS1203B 透過在目標表面移動,可以找到高活性電路或熱點。在熱點上拾取的信號構成簡單或差分電磁分析的量測結果。高精度電磁探棒具有可變增益機制,您可以手動設定或透過外部裝置設定,並可根據目標特性而變化。
現已包含全新改良的放大器單元
量測嵌入式技術的功耗以執行旁通道分析,為量測設定帶來了特定的挑戰。與智慧卡等相比,嵌入式裝置上的電源線通常雜訊較大,訊號傳輸速度較快,且外形尺寸變化很大。使用我們的 DS1201A 被動式電流探棒,迎接在嵌入式裝置(例如系統單晶片 (SoC) 裝置和現場可程式化閘陣列 (FPGA))上執行旁通道分析的挑戰。
主動式電流探棒是一種高頻探棒,可主動拾取電流。高靈敏度的 DS1202A 用於旁通道分析,以量測目標裝置的功耗,它插入目標的電源線中,可傳輸高達 2 GHz 的電流變化。主動式電流探棒與基座單元結合使用,基座單元可用於放大測得的訊號。
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確保您的測試系統符合規格要求,並符合當地與全球標準。
透過內部講師指導的訓練和線上學習,快速進行量測。
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量測探棒會擷取裝置在運作期間產生的實體訊號,例如功耗和電磁輻射。這些訊號可能包含與內部運算和密碼學作業相關聯的資訊,有助於工程師識別潛在的旁路洩漏。
旁路評估通常依賴偵測功耗或電磁輻射的極微小變化。高品質的訊號擷取有助於提高量測準確度、降低雜訊,並增加對安全性評估結果的信心。
電流探棒通常用於執行功耗分析評估。透過測量電流消耗,工程師能夠擷取功耗軌跡,並對其進行分析以找出旁路洩漏和密碼學弱點。
最佳探棒取決於您的目標裝置、評估目標和測試方法。有些應用較適合使用電流探棒進行功耗分析,而其他應用則可能受益於電磁分析。我們建議與 Keysight 裝置安全性團隊討論您的需求,以找出最適合您使用情境與測試環境的解決方案。
旁路洩漏是指透過裝置運作時的功耗、電磁輻射、時序行為或其他可觀察特徵等實體效應,而無意間透露出的資訊。
功耗分析會測量裝置功耗的變化,以識別潛在的資訊洩漏。電磁(EM)分析則會測量由裝置活動產生的電磁輻射,讓工程師能夠調查電路特定區域內的局部行為。
它會直接插入目標的電源供應線路中,因此位於電源與裝置之間,以即時擷取電流變化。
這些量測探棒可用於評估各種嵌入式元件,包括:
可以。評估實驗室、認證機構、半導體公司和產品安全團隊經常使用量測探棒來執行側信道評估並驗證安全要求。
是的。由於側信道洩漏訊號通常很微弱且難以觀測,因此通常需要專門的量測探棒與擷取硬體才能獲得準確且可重複的結果。