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旁通道分析
裝置安全性
找出資料外洩。強化資安防護。
側通道分析透過測量功耗和電磁輻射等物理訊號，揭露嵌入式裝置中隱藏的資訊洩漏。這些技術使資安團隊能夠偵測加密實作中的漏洞，並評估其抵禦實際攻擊的能力。是德科技的側通道解決方案組合，整合了高效能測量硬體、精密探針及先進的分析軟體，可提供精確且可重複的結果。 從初期研究到驗證與認證，這些解決方案能協助您識別洩漏現象、釐清其來源，並充滿信心地強化裝置安全性。
了解裝置安全的基本原理
請觀看 Riscure Security Solutions 創辦人 Marc Witteman 分享裝置安全的基本原理、常見的攻擊手法，以及業界未來的發展趨勢。
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常見問題
側通道分析是一種安全測試技術，透過測量功耗、電磁輻射或光學行為等物理訊號，來評估裝置是否存在資訊洩漏。這些測量結果可揭露加密實作及其他涉及安全敏感功能中的弱點。
即使加密演算法在數學上具有安全性，實作上的缺陷仍可能無意間洩露敏感資訊。側通道分析有助於在產品部署前識別這些弱點，從而降低實際遭受攻擊的風險。
側通道分析可應用於廣泛的裝置，包括智慧卡、安全元件、微控制器、物聯網裝置、汽車零組件、支付系統，以及其他對安全性要求極高的嵌入式系統。
典型的側通道分析系統包含測量儀器、探針、自動化軟體、定位系統及分析工具。具體的配置取決於目標裝置及評估目標。
側通道分析可貫穿整個開發生命週期進行，從早期研究與設計驗證，到認證準備及最終產品評估。
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