- 概述
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高精度側信道分析整合平台
嵌入式安全性測試平台提供統一的平台，用於執行先進的側信道分析與故障注入評估。此平台建構於可擴充的 PXI 架構之上，在單一整合環境中結合了量測、同步、觸發與控制功能，讓安全性團隊能以更高的精確度與效率執行複雜的測試工作流程。
隨著嵌入式設備的速度與複雜度持續增加，安全性評估需要更嚴格的時序控制、更高的資料傳輸量以及更佳的可重複性。本測試平台透過提供共用基礎來解決這些挑戰，該基礎可在整個測試工作流程中同步硬體、軟體與儀器。這可讓工程師從單一平台擷取量測資料、產生觸發訊號、協調數位介面並執行安全性任務。
模組化架構使組織能夠從當今所需的功能開始著手，並隨著測試需求的演進而進行擴充。無論是支援電源分析、電磁分析還是先進的安全性研究，該平台都能透過可設定的 PXI 模組進行調整，在不需變更核心系統的情況下增加觸發、波形產生與數位控制功能。
DS1050A 嵌入式安全性測試平台、DS1060A 樣式觸發產生器、DS1070A 雜訊樣式產生器與 DS1071A 數位 I/O 解決方案共同為建立具備可重複性、可擴充性且面向未來需求的設備安全性測試環境提供了靈活的基礎。
集中化安全性測試
在單一整合平台中結合量測、同步、觸發與控制功能。
隨著需求演進進行擴充
從專注的組態開始，並透過模組化 PXI 儀器擴充功能。
提升時序準確度
透過整個測試設定中精確且可重複的時序，協調量測與安全性事件。
啟用進階工作流程
透過同步的硬體與軟體控制，支援複雜的旁路攻擊分析與故障注入測試。
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Memory
64 GB
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產品類型
Embedded security testbench
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Technology
Device Security
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常見問題
嵌入式安全性測試平台 (Embedded Security Testbench) 是一個統一的平台，用於對嵌入式裝置執行旁路攻擊分析 (SCA) 與故障注入 (FI) 評估。它有助於安全工程師評估電源、電磁、時序或其他實體洩漏是否會暴露機密資訊，以及誘導故障是否會危及裝置安全性或密碼學實作。
旁路攻擊評估通常需要多個儀器以精確的時序協同運作。專用測試平台有助於同步量測、觸發和裝置互動，以提升可重複性、效率和資料品質。
旁路攻擊分析是一種被動技術，透過觀察實體洩漏（例如功耗、電磁輻射或時序行為）來推斷機密資訊。故障注入是一種主動技術，透過電壓、時脈、電磁或光學故障蓄意干擾裝置，以誘發可能揭露漏洞的異常行為。嵌入式安全性測試平台在單一平台上支援這兩種方法。
DS1050A 作為平台的基礎，提供 PXI 機箱與控制器環境，將硬體模組、軟體與儀器整合至同步測試系統中。
可以。模組化 PXI 架構允許使用者從當前所需的效能開始，並隨著測試需求的演進新增額外模組。
不用。模組化設計允許您從 DS1050A 核心平台開始，並隨著測試需求增長，新增 DS1060A 樣式觸發產生器、DS1070A 突波樣式產生器或 DS1071A 數位 I/O 模組。
該平台支援各種嵌入式裝置的安全性評估，包括：
- 安全元件
- 智慧卡
- 微控制器
- 晶片上系統（SoC）裝置
- FPGA
- 嵌入式處理器
同步確保量測、觸發和裝置活動以協調的方式進行。這可改善軌跡對齊，減少量測之間的時序變異，並提高旁路攻擊分析結果的準確度與可重複性。
PXI (PCI eXtensions for Instrumentation) 是一種模組化測試與量測平台，允許多個儀器在單一同步系統內運作。PXI 不需連接獨立的單機儀器，而是將觸發、控制、資料擷取與處理整合至統一的架構中。
對於裝置安全性測試，這使量測模組、觸發產生器、波形產生器和數位 I/O 模組能夠以高度準確的時序和集中控制協同工作。其結果是提升同步性、更高的可重複性，以及在無需替換核心平台的情況下，隨著需求演進擴充測試環境的靈活性。
可以。該平台旨在支援自動化工作流程，允許使用者執行可重複的實驗、自動化複雜的測試專案，並跨多個裝置和專案擴展安全性評估。
嵌入式安全性測試平台作為裝置安全性測試環境的核心基礎。它同步擷取硬體、觸發系統、數位介面和軟體工具，使工程師能夠從單一整合平台執行可重複的旁路攻擊分析與故障注入評估。