組み込みセキュリティテストベンチ

高精度サイドチャネル解析向け統合プラットフォーム

組み込みセキュリティテストベンチは、高度なサイドチャネル解析および故障注入評価を実行するための統合プラットフォームを提供します。スケーラブルなPXIアーキテクチャを基盤とし、測定、同期、トリガ、および制御の各機能を単一の統合環境に統合することで、セキュリティチームがより高い精度と効率で複雑なテストワークフローを実行できるようにします。

組み込みデバイスの高速化と複雑化が進むにつれて、セキュリティ評価にはより厳密なタイミング制御、高いデータスループット、および優れた再現性が求められます。本テストベンチは、テストワークフロー全体にわたってハードウェア、ソフトウェア、計測器を同期させる共通基盤を提供することで、これらの課題に対応します。これにより、エンジニアは単一のプラットフォームから測定の取得、トリガの生成、デジタルインターフェイスの調整、およびセキュリティキャンペーンの実行を行うことができます。

モジュール式アーキテクチャにより、組織は現在必要な機能から開始し、テスト要件の進化に合わせて拡張することができます。電力解析、電磁界解析、または高度なセキュリティ研究のいずれをサポートする場合でも、本プラットフォームは、コアシステムを変更することなくトリガ、波形生成、デジタル制御を追加する構成可能なPXIモジュールを通じて適応します。

DS1050A組み込みセキュリティテストベンチ、DS1060Aパターンベーストリガジェネレータ、DS1070Aグリッチパターンジェネレータ、およびDS1071AデジタルI/Oソリューションを組み合わせることで、再現性、拡張性、および将来を見据えたデバイスセキュリティテスト環境を構築するための柔軟な基盤が提供されます。

セキュリティテストの集約

測定、同期、トリガ、および制御を単一の統合プラットフォームに集約します。

要件の変化に応じた拡張

特定の構成から開始し、モジュール式のPXI計測器によって機能を拡張できます。

タイミング精度の向上

テストセットアップ全体で、高精度かつ再現性の高いタイミングにより、測定とセキュリティイベントを調整します。

高度なワークフローの有効化

ハードウェアとソフトウェアの同期制御により、複雑なサイドチャネル解析および故障注入キャンペーンをサポートします。

製品画像
  • Memory

    64 GB

  • (SPD)N6700の製品タイプ

    Embedded security testbench

  • Technology

    Device Security

よくあるご質問