- 概述
- 所有型號
- 支援
高效能頻寬和精準度
Keysight 專業向量訊號產生器在我們的進階型號基礎上，增加了更寬的頻寬、增強的頻譜純度以及直接數位合成 (DDS) 和內嵌式反射計等尖端功能。DDS 可實現快速頻率切換，並降低相位雜訊和失真。內嵌式反射計可透過單一按鈕表徵待測裝置 (DUT) 的匹配，以在參考平面產生匹配校正訊號，從而降低量測不確定度。專業向量訊號產生器具有內嵌式軟體，可在觸控螢幕上直接建立 5G NR 和多音等複雜調變。立即索取專業向量訊號產生器的報價。請參閱下方資源以了解更多資訊。
複雜的寬頻訊號
產生載波聚合和數位預失真 (DPD) 應用所需的複雜寬頻訊號，每通道頻寬高達 1 GHz。
頻譜效率訊號
透過低鄰近通道功率比(ACPR)和高輸出功率，確保可重複、高品質的量測，以加速研發測試或最佳化生產測試裕度。
快速切換速度
透過快速切換速度和頻率、振幅及其他參數的列表模式預編程，加速測試或模擬雷達等快速移動的訊號。
超低相位雜訊
對於在雷達、衛星通訊和高頻振盪器等高度敏感應用中擷取精確量測至關重要。
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Maximum modulation bandwidth
400 MHz 至 1 GHz
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輸出數目
1 至 4
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1 GHz、20 kHz偏移時的相位雜訊
-147 dBc/Hz 至 -145 dBc/Hz
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1 GHz時的輸出功率
18 dBm 至 25 dBm
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1 GHz 時的諧波
-45 dBc 至 -35 dBc
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Frequency switching speed
2 µs 至 800 µs
典型配置
XG4 級向量信號產生器
XG4 級向量信號產生器
XG5 級向量信號產生器
服務與支援
透過精選支援方案以及優先回應與周轉時間，加速創新。
取得可預測的租賃式訂閱和完整的生命週期管理解決方案，讓您更快達成業務目標。
成為 KeysightCare 訂閱者，體驗更優質的服務，獲得承諾的技術回應及更多。
確保您的測試系統符合規格要求，並符合當地與全球標準。
透過內部講師指導的訓練和線上學習，快速進行量測。
下載 Keysight 軟體，或將您的軟體更新至最新版本。
常見問題
傳統產生器使用 IQ 調變器來產生數位訊號。IQ 調變器會在訊號通過數位類比轉換器 (DAC) 後對其進行調變。這種架構的缺點是容易受到影像和 LO 饋通的影響。相較之下，旗艦訊號產生器採用 DDS 架構，利用數位升頻轉換，這表示它在訊號通過 DAC 之前對其進行調變。旗艦訊號產生器利用數位升頻轉換技術，提供卓越的訊號傳真度，消除影像或 LO 饋通造成的失真，並確保準確的測試結果。
治具去嵌入是射頻測試中用於消除測試治具（例如纜線、連接器或測試板）對量測資料影響的技術。此程序可讓工程師準確評估待測裝置 (DUT) 的真實效能。在高頻配置中，治具會引入寄生效應，例如電容、電感或訊號損耗，這可能會扭曲 DUT 特性（包括增益）的量測結果。
去嵌入（De-embedding）是指對夾具的電氣特性進行表徵，並從原始資料中以數學方式減去其影響。這有效地將量測參考平面移至待測裝置（DUT）的端子，確保對待測裝置進行準確的特性分析，如同其直接連接到測試儀器一樣。此程序對於驗證無線系統或天線等應用中的 RF 元件至關重要。
反射計使用一對定向耦合器，測量測量平面上的入射波和反射波。透過擷取此資訊，您可以計算必要的校正，以在測量平面提供所需的功率位準並將漣波降至最低。調整訊號源的輸出位準可確保測量平面的入射功率達到所需位準，而不會產生漣波等不必要的影響。
向量訊號產生器中的嵌入式反射計讓您輕鬆：
- 搭配 Ecal 對治具進行特性分析，並產生 s2p 檔案用於去嵌入。
- 測量參考平面上的 S11，並產生 s1p 檔案以校正阻抗不匹配。
- 執行點校正至目前負載或理想的 50 歐姆負載。
只需按下一個按鈕，您現在即可計算待測裝置的反射係數或執行點校正。傳統上，這需要專業技術專家才能去嵌測試夾具或特性化待測裝置的匹配。