如何進行高精度低電流測量

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測量洩漏電流與休眠電流

精密低電流測量需要對裝置施加受控電壓或電流,同時精確擷取微安培和奈安培級響應。測試設置必須支援低雜訊測量路徑、高解析度儀器以及穩定的電氣連接,以偵測電子元件中的洩漏電流和待機電流行為。

測量工作流程包括向待測裝置 (DUT) 提供電壓或電流,使用分流電阻法或源測量單元 (SMU) 測量產生的電流,並分析通電和未通電條件下的響應。準確的結果取決於最小化雜訊、控制熱效應,以及針對每個測試情境適當地配置測量範圍和閾值。

低電流測量測試解決方案

低電流測量需要精確的源和測量能力,具備最小雜訊和高解析度,以偵測微安培和奈安培級電流。該解決方案整合了電路內測試系統、精密源測量單元和自動化測試序列軟體。它透過在單一設置中提供受控激勵、雜訊濾波和高解析度感測,實現精確的電流測量。該系統還支援使用引導式工作流程自動產生測試序列,簡化了與製造環境的整合。憑藉雙通道測量能力和無縫的測試儀連接性,該解決方案提高了測量準確性,同時降低了測試開發的複雜性。

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