高精度な低電流測定の実施方法

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+ インサーキットテストシステム

リーク電流およびスリープ電流の測定

高精度な低電流測定を行うには、デバイスに制御された電圧または電流を印加しつつ、マイクロアンペアおよびナノアンペアレベルの応答を正確に捉える必要があります。電子部品のリーク電流や待機電流の挙動を検出するためには、測定システムが低ノイズの測定経路、高分解能の計測機器、および安定した電気的接続に対応している必要があります。

測定ワークフローでは、被測定デバイス（DUT）に電圧または電流を印加し、シャント抵抗法またはソース・メジャー・ユニット（SMU）のいずれかを使用してその結果生じる電流を測定し、通電時および非通電時の応答を解析します。正確な結果を得るためには、ノイズを最小限に抑え、熱的影響を制御し、各テストシナリオに応じて測定範囲や閾値を適切に設定することが重要です。

低電流測定のテストソリューション

微小電流の測定には、マイクロアンペアおよびナノアンペアレベルの電流を検出するために、ノイズを最小限に抑え、高分解能を備えた高精度な電源供給および測定機能が必要です。このソリューションは、インサーキット・テスト・システムに高精度ソース・メジャー・ユニットと自動テストシーケンス生成ソフトウェアを統合したものです。単一のセットアップで制御された刺激、ノイズフィルタリング、高分解能のセンシングを実現し、正確な電流測定を可能にします。また、ガイド付きワークフローを用いた自動テストシーケンス生成をサポートしており、製造環境への統合を簡素化します。デュアルチャネル測定機能とテスターとのシームレスな接続性を備えたこのソリューションは、測定精度を向上させると同時に、テスト開発の複雑さを軽減します。

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