정밀한 저전류 측정 방법

회로 내 테스트 시스템
+ 인서킷 테스트 시스템

누설 전류 및 대기 전류 측정

정밀한 저전류 측정을 위해서는 소자에 제어된 전압이나 전류를 인가하는 동시에 마이크로암페어 및 나노암페어 수준의 응답을 정확하게 포착해야 합니다. 전자 부품의 누설 전류 및 대기 전류 특성을 감지하기 위해서는 테스트 설비가 저잡음 측정 경로, 고해상도 계측 장비, 안정적인 전기적 연결을 지원해야 합니다.

측정 워크플로는 피측정 장치(DUT)에 전압 또는 전류를 공급하고, 션트 저항 방식이나 소스-메저 유닛(SMU)을 사용하여 발생하는 전류를 측정한 뒤, 전원이 공급된 상태와 공급되지 않은 상태에서 나타나는 응답을 분석하는 과정을 포함합니다. 정확한 결과를 얻기 위해서는 노이즈를 최소화하고, 열적 영향을 제어하며, 각 테스트 시나리오에 맞게 측정 범위와 임계값을 적절히 설정해야 합니다.

저전류 측정 테스트 솔루션

저전류 측정은 마이크로암페어 및 나노암페어 수준의 전류를 감지하기 위해 노이즈를 최소화하고 높은 분해능을 갖춘 정밀한 전류 공급 및 측정 기능을 필요로 합니다. 이 솔루션은 정밀 소스-측정 장치(SMU)와 자동화된 테스트 시퀀스 생성 소프트웨어를 갖춘 인서킷 테스트 시스템을 통합합니다. 단일 설정에서 제어된 자극, 노이즈 필터링 및 고해상도 감지 기능을 제공함으로써 정확한 전류 측정이 가능합니다. 또한 이 시스템은 안내형 워크플로를 활용한 자동화된 테스트 시퀀스 생성을 지원하여 제조 환경으로의 통합을 간소화합니다. 듀얼 채널 측정 기능과 테스터와의 원활한 연동성을 갖춘 이 솔루션은 측정 정확도를 향상시키는 동시에 테스트 개발의 복잡성을 줄여줍니다.

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