Cómo realizar mediciones precisas de baja intensidad

Sistema de pruebas en circuito
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Medir las corrientes de fuga y de reposo

La medición de precisión de corrientes bajas requiere aplicar una tensión o corriente controlada a un dispositivo, al tiempo que se registran con exactitud las respuestas a nivel de microamperios y nanoamperios. La configuración de ensayo debe permitir rutas de medición de bajo ruido, instrumentación de alta resolución y conexiones eléctricas estables para detectar el comportamiento de la corriente de fuga y la corriente en modo de espera en los componentes electrónicos.

El proceso de medición consiste en aplicar tensión o corriente al dispositivo bajo prueba (DUT), medir la corriente resultante mediante un método de resistencia de derivación o una unidad de medida y fuente, y analizar la respuesta tanto en condiciones de alimentación como sin alimentación. La precisión de los resultados depende de minimizar el ruido, controlar los efectos térmicos y configurar adecuadamente los rangos de medición y los umbrales para cada escenario de prueba.

Solución de pruebas para la medición de corrientes bajas

La medición de corrientes bajas requiere capacidades precisas de generación y medición, con un ruido mínimo y una alta resolución, para detectar corrientes del orden de los microamperios y los nanoamperios. La solución integra un sistema de pruebas en circuito con una unidad de medida y fuente de precisión y un software de secuenciación automatizada de pruebas. Permite una medición precisa de la corriente al proporcionar un estímulo controlado, filtrado de ruido y detección de alta resolución en una única configuración. El sistema también admite la generación automatizada de secuencias de pruebas mediante un flujo de trabajo guiado, lo que simplifica la integración en entornos de fabricación. Con capacidad de medición de doble canal y una conectividad fluida con el equipo de pruebas, la solución mejora la precisión de la medición al tiempo que reduce la complejidad del desarrollo de las pruebas.

Véase el diagrama de bloques de la solución de prueba para la medición de baja corriente

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