如何執行雷射二極體 L-I-V 測試

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同步 L-I-V 測量

雷射二極體光-電流-電壓(L-I-V)測量需要受控的驅動電流掃描、同時測量雷射二極體電壓,以及在雷射電流改變時測量光學輸出的光電二極體檢測器路徑。透過電流掃描驅動雷射二極體,同時監控其電壓。光電二極體保持在常數 0.1 V,並以固定範圍測量其電流。此範例使用具有 201 個點的 0 至 50 mA 雷射二極體電流掃描。

測量儀器經過同步,使得每個完成的雷射二極體電流步階都會為光電二極體電流測量產生一個觸發。在此範例中,電流步階週期為 500 µs,並針對短測量間隔使用 100 µs 測量延遲和 0.01 電源線週期孔徑設定。結果會顯示在儀器上,並可匯出為逗號分隔值(CSV)格式,以便繪製雷射二極體電壓與光電二極體電流對雷射二極體驅動電流的圖表。

同步雷射二極體 L-I-V 解決方案

透過在同步觸發點掃描驅動電流同時測量雷射二極體電壓和光電二極體電流,來執行雷射二極體測試。B2911C 使用從 0 到 50 mA、具備 201 個點的線性掃描來供應雷射二極體電流,並測量雷射二極體電壓。B2985C/87C 對光電二極體施加常數 0.1 V,並以固定的 2 mA 範圍測量其電流。B2911C 在每個電流步階之後,透過其數位 I/O 連接埠經由 N1294A-031 GPIO-BNC 觸發轉接器向 B2985C/87C 觸發輸入發送觸發。所產生的雷射二極體電壓和光電二極體電流測量結果可以在儀器上檢視,並匯出為 CSV 檔案以進行詳細分析和 L-I-V 繪圖。

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