如何執行雷射二極體 L-I-V 測試

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同步 L-I-V 測量值

進行雷射二極體光-電流-電壓(L-I-V)測量時,需進行受控的驅動電流掃描、同步測量雷射二極體電壓,並透過光電二極體偵測路徑,在雷射電流變化時測量光輸出。在監測雷射二極體電壓的同時,以電流掃描方式驅動該二極體。 將光電二極體維持在恆定電壓 0.1 V,並以固定量程測量其電流。此範例採用 0 至 50 mA 的雷射二極體電流掃描,共 201 個數據點。

測量儀器已進行同步,使得每個完成的雷射二極體電流步進都會觸發光電二極體電流的測量。 在此範例中,電流階躍週期為 500 µs,並採用 100 µs 的測量延遲,以及 0.01 電源線週期的開窗設定來進行短時間測量。測量結果會顯示於儀器上,並可匯出為逗號分隔值 (CSV) 檔案,以便繪製雷射二極體電壓與光電二極體電流隨雷射二極體驅動電流變化的曲線圖。

同步雷射二極體 L-I-V 解決方案

執行雷射二極體測試時,應在同步觸發點處掃描驅動電流,同時測量雷射二極體電壓與光電二極體電流。 B2911C 透過 0 至 50 mA 的線性掃描(共 201 個點)為雷射二極體提供驅動電流,並測量其電壓。B2985C/87C 則向光電二極體施加恆定 0.1 V 電壓,並以固定 2 mA 量程測量其電流。 B2911C 在每個電流階躍後,會透過 N1294A-031 GPIO-BNC 觸發轉接器,從其數位 I/O 埠向 B2985C/87C 的觸發輸入端發送觸發訊號。所得的雷射二極體電壓與光電二極體電流測量結果,可於儀器上檢視,並匯出為 CSV 檔案以進行詳細分析及繪製 L-I-V 曲線圖。

請參閱同步雷射二極體 L-I-V 解決方案的方塊圖

如何執行雷射二極體 L-I-V 測試——系統方塊圖

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