如何測量偏振相關損耗

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特性分析偏振相依傳輸

偏振相依損耗測試可測量受測元件的插入損耗隨光偏振狀態變化的變化情形。此量測使用可調諧光源、受控偏振狀態產生器以及同步光功率量測，來比較多個偏振狀態下的傳輸光功率，並計算偏振相依損耗。

測試組態必須包含偏振狀態控制、光信號路由、同步光功率擷取以及波長掃描，以進行偏振靈敏度特性分析。工程師利用所得的量測結果來評估光學濾波器、多工器、波長選擇元件及其他偏振相依元件，方法是識別最大與最小傳輸條件。

基於偏振的損耗測量解決方案

測量偏振相依損耗需要受控的偏振狀態和同步的光功率量測，以確定插入損耗如何隨偏振變化而改變。Keysight 偏振相依損耗量測解決方案結合了可調諧雷射、偏振合成器、光學多埠功率錶和光開關，可自動控制偏振狀態、路由光信號，並在多個偏振狀態下擷取可重複的功率量測值。這些儀器共同運作，可特性分析光學濾波器、多工器、波長選擇元件及其他被動光學元件的偏振靈敏度，同時改善量測可重複性並減少手動測試設定。
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