如何測量各波長下的光插入損耗

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分析頻譜插入損耗

工程師利用可調式光源、經校準的參考測量值，以及同步光功率擷取技術，來表徵被動光學元件的光譜透射響應。在可程式化波長掃描過程中，系統會測量通過被測元件的光功率，並將測量結果與儲存的參考值進行比較，藉此計算出插入損耗隨波長變化的函數關係。

該測試配置可協調跨多個光路進行的波長掃描、光訊號路由及多端口光功率擷取。工程師透過分析所得的插入損耗光譜，來表徵光濾波器、多工器、波長選擇性裝置及其他被動光學元件中的波長依賴性衰減、通帶特性與傳輸行為。

光插入損耗測量解決方案

要測量不同波長下的光插入損耗，必須進行經校準的波長掃描，並同步進行傳輸功率測量。 是德科技的光學插入損耗測量解決方案整合了可調諧雷射、光開關及光多端口功率計。可調諧雷射產生掃頻光訊號，光開關將訊號導向選定的被測裝置路徑，而光多端口功率計則測量多個輸出端口的傳輸光功率。該系統將這些測量結果與儲存的參考值進行比對，藉此計算波長函數下的插入損耗，並表徵被動光學元件的光譜傳輸響應。
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