如何測量各波長下的光插入損耗

索取報價
可調諧雷射
+ 可調諧雷射
可調諧雷射
+ 可調諧雷射

分析頻譜插入損耗

工程師使用可調諧光源、已校驗的參考量測，以及同步的光學功率擷取來特性化被動式光學元件的光譜傳輸響應。在可程式化波長掃描期間，系統會量測透過待測物傳輸的光學功率，並將量測結果與儲存的參考進行比較，以計算出作為波長函數的插入損失。

測試組態可協調多個光學路徑中的波長掃描、光學信號路由以及多埠光學功率擷取。工程師會分析所得的插入損失光譜，以特性化光學濾波器、多工器、波長選擇元件及其他被動式光學元件中的波長相依衰減、通帶特性和傳輸行為。

光插入損耗測量解決方案

跨波長量測光學插入損失需要經過校驗的波長掃描與同步的傳輸功率量測。Keysight 光學插入損失量測解決方案結合了可調諧雷射、光學開關與多埠光學功率計。可調諧雷射會產生經掃描的光學信號，光學開關會透過選定的待測物路徑路由該信號，而多埠光學功率計則會量測跨多個輸出埠傳輸的光學功率。系統會將這些量測結果與儲存的參考進行比較，以計算出作為波長函數的插入損失，並特性化被動式光學元件的光譜傳輸響應。
索取報價

查看光學插入損失量測解決方案的方塊圖

光插入損耗測量解決方案的方塊圖

探索我們的光學插入損失量測解決方案中的產品

探索資源與洞察

光學插入損失量測的額外資源

相關應用案例

相干光接收器 EVM 與 BER 分析解決方案

分析 EVM 和 BER 以評估相干光發射器的性能，將調變品質與鏈路餘量建立關聯，並驗證高速相干收發器設計。

了解更多

如何自動化多端口回波損耗測試

利用光交換技術與同步功率測量，實現跨多個埠的光回波損耗測試自動化。

了解更多

如何測量偏振相關損耗

利用受控的偏振態與同步的光功率測量，測量光學元件的偏振依賴損耗。

了解更多

聯絡我們標誌

聯絡我們的一位專家

需要協助尋找適合您的解決方案嗎？

與我們聯絡