如何測量光回波損耗

可調諧雷射
+ 可調諧雷射

精確測量光學反射

光回波損耗測試需要一個穩定的光源,以及一條能夠監測傳輸至被測裝置的光功率與從該裝置反射回來的光功率的測量路徑。對於掃波測量,光源會在所需的波長範圍內變換,而回波損耗測量則會與掃波保持同步。

此測量方法將入射光功率與被測裝置的反射光功率進行比較,並根據結果來測定光回波損耗。該測試系統可用於在所測波長範圍內,對連接器、光纖介面、光纖組件及被動光學元件的反射特性進行表徵。

光回波損耗測量解決方案

要測量光回波損耗,必須具備穩定的光訊號產生能力,並同步進行入射與反射光功率測量,以量化反射的光能。 是德科技的光回波損耗測量解決方案結合了可調諧雷射與光回波損耗計,可提供掃頻光激勵訊號、監測發射至被測裝置的光功率,並測量從該裝置反射回來的光功率。這些儀器共同支援同步掃頻波長測量,用以表徵連接器、光纖介面、組件及被動光學元件的光回波損耗特性。

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