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以精確度與控制力測試智慧卡安全性
智慧卡、安全元件和類似的安全關鍵型裝置旨在保護敏感資產免受邏輯和實體攻擊。評估這些防護機制的有效性通常需要能夠在安全關鍵操作期間注入精確且可重複的錯誤。智慧卡安全性測試使安全工程師能夠評估裝置對錯誤注入攻擊的韌性、驗證實作的對策，並在產品上市前識別潛在漏洞。
產生精確的錯誤條件
自動化安全性評估
驗證智慧卡對策
支援整合式測試工作流程
在統一的測試環境中結合故障植入硬體、觸發、自動化和分析。
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產品類型
Smartcard voltage and clock glitcher
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Input voltage range
-7.4 V to +4.2 V
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Maximum voltage
8.5 V
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Technology
Device Security
最受歡迎的配置
智慧卡電壓與時脈故障注入器
DS1160A 智慧卡電壓與時脈故障注入器採用超高速 FPGA 技術，可產生 2 奈秒的故障，並具備完全可編程的硬體。
DS1160A 智慧卡電壓與時脈故障注入器採用超高速 FPGA 技術，可產生 2 奈秒的故障，並具備完全可編程的硬體。
智慧卡電壓與時脈故障注入器
DS1160A 智慧卡電壓與時脈故障注入器採用超高速 FPGA 技術，可產生 2 奈秒的故障，並具備完全可編程的圖樣與控制邏輯。DS1160A 內建電路，用於執行電壓與時脈故障注入，並提供一個輸出通道，以控制 DS1101A 故障注入雷射系統上的光學脈衝。
- 利用整合式數位圖樣產生器中的 FPGA 技術，產生極短的故障，以執行強大的測試
- 利用擾動指令集，輕鬆建立任何測試情境
- 重現測試並精確記錄智慧卡行為
- 透過自動化測試大量擾動參數，縮短測試時間
- 與 DS1002A 圖樣式觸發產生器和 DS1101A 故障注入雷射系統無縫整合
- 透過可調式限流器，防止卡片損壞
- 透過一致且完整的擾動測試，達到高水準的可靠度，且無需晶片解封裝
白皮書
從傳統智慧卡到整合式安全元件
深入了解供應商在系統單晶片 (SoC) 中整合安全元件以取代傳統智慧卡時需要考量的關鍵因素。
服務與支援
透過精選支援方案以及優先回應與周轉時間，加速創新。
取得可預測的租賃式訂閱和完整的生命週期管理解決方案，讓您更快達成業務目標。
成為 KeysightCare 訂閱者，體驗更優質的服務，獲得承諾的技術回應及更多。
確保您的測試系統符合規格要求，並符合當地與全球標準。
透過內部講師指導的訓練和線上學習，快速進行量測。
下載 Keysight 軟體，或將您的軟體更新至最新版本。
常見問題
智慧卡安全性測試旨在評估智慧卡、安全元件或類似的安全性關鍵裝置是否能夠抵抗故障植入和旁道分析等實體攻擊。其目標是在部署前識別弱點、驗證安全性防禦對策並提高裝置的強固性。
智慧卡通常儲存敏感資產，例如密碼金鑰、支付憑證、身分資料和驗證機密。由於它們保護高價值資訊，因此經常接受旨在繞過安全機制或改變裝置行為的故障植入攻擊評估。
故障植入是在智慧卡運作期間故意引入異常狀況。透過在精確時刻干擾電源、時脈訊號或其他裝置參數，安全性工程師可以調查裝置的反應，並判定弱點是否可被利用。
許多智慧卡的運作速度極快。奈秒級的時序控制可讓評估人員精確鎖定特定的指令、密碼計算或安全檢查，進而提高攻擊的有效性與可重複性。
是的。DS1160A 與 Inspector 軟體整合，以支援自動化、參數探索、測試活動管理、結果分析和可重複的故障植入工作流程。