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Testes de segurança de cartões inteligentes Injeção de falhas
- Visão geral
- Todos os modelos
- Acessórios
- Software
- Suporte
Teste a segurança dos cartões inteligentes com precisão e controle
Cartões inteligentes, elementos de segurança e dispositivos similares essenciais para a segurança são projetados para proteger ativos confidenciais contra ataques tanto lógicos quanto físicos. Avaliar a eficácia dessas proteções geralmente requer a capacidade de injetar falhas precisas e repetíveis durante operações críticas para a segurança. Os testes de segurança de cartões inteligentes permitem que os engenheiros de segurança avaliem a resiliência dos dispositivos contra ataques de injeção de falhas, validem as contramedidas implementadas e identifiquem vulnerabilidades antes que os produtos cheguem ao mercado.
Gerar condições de falha precisas
Automatizar avaliações de segurança
Validar as contramedidas para cartões inteligentes
Suporte a fluxos de trabalho integrados de testes
Combine hardware de injeção de falhas, acionamento, automação e análise em um ambiente de testes unificado.
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Product type
Smartcard voltage and clock glitcher
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Input voltage range
-7.4 V to +4.2 V
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Maximum voltage
8.5 V
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Technology
Device Security
Configurações mais populares
Gerador de distúrbios de tensão e clock para cartões inteligentes
Utilizando tecnologia FPGA ultrarrápida, o DS1160A Smartcard Voltage and Clock Glitcher é capaz de gerar falhas de 2 ns por meio de hardware totalmente programável.
Utilizando tecnologia FPGA ultrarrápida, o DS1160A Smartcard Voltage and Clock Glitcher é capaz de gerar falhas de 2 ns por meio de hardware totalmente programável.
Gerador de distúrbios de tensão e clock para cartões inteligentes
DS1160A
Utilizando tecnologia FPGA ultrarrápida, o DS1160A Smartcard Voltage and Clock Glitcher é capaz de gerar falhas de 2 ns por meio de hardware totalmente programável.
Utilizando tecnologia FPGA ultrarrápida, o DS1160A Smartcard Voltage and Clock Glitcher é capaz de gerar falhas de 2 ns com padrões e lógica de controle totalmente programáveis. O DS1160A possui circuitos integrados para a geração de falhas de tensão e clock, além de um canal de saída para controlar pulsos ópticos no Sistema de Injeção de Falhas a Laser DS1101A.
- Gerar glitches muito curtos utilizando a tecnologia FPGA no gerador de padrões digitais integrado para a realização de testes altamente eficazes
- Crie facilmente qualquer cenário de teste com o conjunto de instruções de perturbação
- Reproduzir testes com registro preciso do comportamento do cartão inteligente
- Reduzir o tempo de teste por meio de testes automatizados de um amplo conjunto de parâmetros de perturbação
- Integra-se perfeitamente com o Gerador de Gatilho Baseado em Padrões DS1002A e o Sistema de Injeção de Falhas a Laser DS1101A
- Evite danos à placa com o limitador de corrente ajustável
- Alcance um alto nível de garantia com testes de perturbação consistentes e completos. Não requer a remoção do chip da embalagem
Documentos Técnicos
De Smartcards clássicos a elementos seguros integrados
Entenda os fatores críticos que os fornecedores precisam considerar ao integrar elementos seguros no sistema em chip (SoC) para substituir os cartões inteligentes clássicos.
Serviços e suporte
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Experimente um serviço diferenciado como assinante do KeysightCare para obter respostas técnicas comprometidas e muito mais.
Garanta que seu sistema de teste funcione de acordo com as especificações e atenda às normas locais e globais.
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Perguntas frequentes
Os testes de segurança de cartões inteligentes avaliam se um cartão inteligente, um elemento seguro ou outro dispositivo semelhante de importância crítica para a segurança é capaz de resistir a ataques físicos, como injeção de falhas e análise de canal lateral. O objetivo é identificar vulnerabilidades, validar contramedidas de segurança e melhorar a resiliência do dispositivo antes da implantação.
Os cartões inteligentes costumam armazenar ativos confidenciais, como chaves criptográficas, credenciais de pagamento, dados de identidade e segredos de autenticação. Por protegerem informações de alto valor, eles são frequentemente submetidos a testes contra ataques de injeção de falhas, projetados para contornar mecanismos de segurança ou alterar o comportamento do dispositivo.
A injeção de falhas introduz deliberadamente condições anormais em um cartão inteligente durante sua operação. Ao interferir na alimentação, nos sinais de clock ou em outros parâmetros do dispositivo em momentos precisos, os engenheiros de segurança podem investigar como o dispositivo responde e determinar se há vulnerabilidades que possam ser exploradas.
Muitas operações em cartões inteligentes ocorrem com extrema rapidez. O controle de temporização na ordem dos nanossegundos permite que os avaliadores identifiquem com precisão instruções específicas, cálculos criptográficos ou verificações de segurança, melhorando a eficácia e a repetibilidade dos ataques.
Sim. O DS1160A se integra ao software Inspector para oferecer suporte à automação, à exploração de parâmetros, ao gerenciamento de campanhas, à análise de resultados e a fluxos de trabalho repetíveis de injeção de falhas.