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Können wir Ihnen behilflich sein?
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Integrierte Physik-Suite
Die Verknüpfung von Design und physikalischen Tests zur Bewertung der Fall-, Stoß- und Vibrationsfestigkeit erfolgt, bevor die Hardware existiert.
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Kaufen Sie ein Expert Oszilloskop, steigern Sie Ihre Bandbreite
Sichern Sie sich Ihr kostenloses Upgrade auf die nächste Bandbreitenstufe.
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End-to-End-Validierung für KI-Rechenzentren
Stärken 1.6T Netzwerkzuverlässigkeit für KI-Workloads im großen Maßstab, von Transceivern bis zu Verbindungsleitungen.
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Komplexe MIMO-Signale bewältigen
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Einführung KI-gestützter Paketbroker
Mit zusätzlichem Speicher und Speicherplatz können diese verbesserten NPBs die KI-Sicherheits- und Leistungsüberwachungssoftware sowie den KI-Stack von Keysight ausführen.
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Halbleiterinnovationen beschleunigen
Entdecken Sie durchgängige Arbeitsabläufe, die IC-Design, Validierung, Wafer-Test und Photonik umfassen.
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Beschleunigen Sie Ihren Innovationsmotor
Informieren Sie sich über kuratierte Support-Pläne, die nach Prioritäten geordnet sind, um Ihre Innovationsgeschwindigkeit aufrechtzuerhalten.
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Die richtige Verbindung ermöglicht die Messung
Maximieren Sie Genauigkeit und Leistung mit Präzisionszubehör, das speziell für Keysight-Instrumente entwickelt wurde.
Komplexe HF-Signale schneller analysierenEntdecken Sie die Möglichkeiten der Zweikanal- und Ultrabreitband-Signalanalyse für anspruchsvolle HF-Workflows.
Digitale Validierung. Schneller.Erhalten Sie schnellere und klarere Einblicke mit unserem neuen Multicore-12-Bit-Oszilloskop mit bis zu 33 GHz. Tauschen Sie Ihr altes Oszilloskop ein und erhalten Sie eine Gutschrift für ein neues XR8.
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- Lösungen
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Autoritative Anwendungsberichte, Datenblätter, Referenzdesigns und Testverfahren zur Beschleunigung von Design- und Validierungsentscheidungen.
AusgewähltPraxisorientierte Bootcamps, in denen Systemdesign, Testmethoden und Produktionsabläufe vermittelt werden, die Ingenieure sofort anwenden können.
Erfolgsgeschichten
HPE Juniper Networking baut KI-Infrastruktur der nächsten Generation - Kaufen
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Schneller Zugriff auf die häufigsten unterstützungsbezogenen Selbsthilfeaufgaben.
Zusätzliche Inhalte zur Unterstützung Ihrer Produktanforderungen.
Mehr erreichen mit Keysight ServicesEntdecken Sie Dienstleistungen, die jeden Schritt Ihrer Innovationsreise beschleunigen.
- Überblick
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Smartcard-Sicherheit präzise und kontrolliert testen
Smartcards, Secure Elements und ähnliche sicherheitskritische Geräte schützen sensible Daten vor logischen und physischen Angriffen. Die Bewertung der Wirksamkeit dieser Schutzmaßnahmen erfordert häufig die Möglichkeit, präzise und reproduzierbare Fehler während sicherheitskritischer Vorgänge zu erzeugen. Smartcard-Sicherheitstests ermöglichen es Sicherheitsexperten, die Widerstandsfähigkeit der Geräte gegen Fehlerinjektionsangriffe zu beurteilen, implementierte Gegenmaßnahmen zu validieren und Schwachstellen zu identifizieren, bevor die Produkte auf den Markt kommen.
Präzise Fehlerbedingungen generieren
Automatisierte Sicherheitsbewertungen
Validierung der Gegenmaßnahmen für Smartcards
Unterstützung integrierter Test-Workflows
Kombinieren Sie Hardware zur Fehlereinspeisung, Triggerung, Automatisierung und Analyse in einer einheitlichen Testumgebung.
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Product type
Smartcard voltage and clock glitcher
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Input voltage range
-7.4 V to +4.2 V
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Maximum voltage
8.5 V
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Technology
Device Security
Beliebteste Konfigurationen
Smartcard-Spannungs- und Taktstörung
Mithilfe ultraschneller FPGA-Technologie kann der DS1160A Smartcard Voltage and Clock Glitcher 2 ns lange Fehler mit vollständig programmierbarer Hardware erzeugen.
Mithilfe ultraschneller FPGA-Technologie kann der DS1160A Smartcard Voltage and Clock Glitcher 2 ns lange Fehler mit vollständig programmierbarer Hardware erzeugen.
Smartcard-Spannungs- und Taktstörung
DS1160A
Mithilfe ultraschneller FPGA-Technologie kann der DS1160A Smartcard Voltage and Clock Glitcher 2 ns lange Fehler mit vollständig programmierbarer Hardware erzeugen.
Der DS1160A Smartcard Voltage and Clock Glitcher nutzt ultraschnelle FPGA-Technologie und kann 2 ns lange Fehler mit vollständig programmierbarer Muster- und Steuerlogik erzeugen. Der DS1160A verfügt über integrierte Schaltkreise zur Erzeugung von Spannungs- und Taktglitches sowie einen Ausgangskanal zur Steuerung optischer Impulse des DS1101A Fault Injection Laser Systems.
- Erzeugen Sie mithilfe der FPGA-Technologie im integrierten digitalen Mustergenerator sehr kurze Störungen für äußerst leistungsfähige Tests.
- Mit dem Perturbationsbefehlssatz lassen sich problemlos beliebige Testszenarien erstellen.
- Reproduzieren Sie Tests mit genauer Protokollierung des Smartcard-Verhaltens.
- Verkürzen Sie die Testzeit durch automatisiertes Testen einer großen Anzahl von Störungsparametern.
- Nahtlose Integration mit dem musterbasierten Triggergenerator DS1002A und dem Fehlereinspritzlasersystem DS1101A.
- Verhindern Sie Kartenschäden mit einem einstellbaren Strombegrenzer
- Erreichen Sie ein hohes Maß an Zuverlässigkeit durch konsistente und vollständige Störungstests. Eine Chip-Entpackung ist nicht erforderlich.
White Paper
Von klassischen Smartcards zu integrierten sicheren Elementen
Verstehen Sie die kritischen Faktoren, die Anbieter bei der Integration von Secure Elements in das System-on-Chip (SoC) zur Ablösung klassischer Smartcards berücksichtigen müssen.
Dienstleistungen und Support
Innovieren Sie im Handumdrehen mit maßgeschneiderten Supportplänen und priorisierten Reaktions- und Bearbeitungszeiten.
Profitieren Sie von planbaren, leasingbasierten Abonnements und umfassenden Lifecycle-Management-Lösungen – damit Sie Ihre Geschäftsziele schneller erreichen.
Als KeysightCare-Abonnent profitieren Sie von einem erweiterten Service mit zuverlässiger technischer Unterstützung und vielem mehr.
Stellen Sie sicher, dass Ihr Testsystem den Spezifikationen entspricht und sowohl lokale als auch globale Standards erfüllt.
Schnelle Messungen dank hauseigener, von Ausbildern geleiteter Schulungen und E-Learning.
Laden Sie die Keysight-Software herunter oder aktualisieren Sie Ihre Software auf die neueste Version.
Häufig gestellte Fragen
Sicherheitstests für Smartcards bewerten, ob eine Smartcard, ein sicheres Element oder ein ähnliches sicherheitskritisches Gerät physischen Angriffen wie Fehlereinschleusung und Seitenkanalanalysen widerstehen kann. Ziel ist es, Schwachstellen zu identifizieren, Sicherheitsmaßnahmen zu validieren und die Gerätestabilität vor der Markteinführung zu verbessern.
Smartcards speichern häufig sensible Daten wie kryptografische Schlüssel, Zahlungsinformationen, Identitätsdaten und Authentifizierungsgeheimnisse. Da sie hochsensible Informationen schützen, werden sie häufig auf Fehlerinjektionsangriffe geprüft, die darauf abzielen, Sicherheitsmechanismen zu umgehen oder das Geräteverhalten zu verändern.
Fehlerinjektion erzeugt gezielt anormale Zustände in einer Smartcard während des Betriebs. Durch die gezielte Störung der Stromversorgung, der Taktsignale oder anderer Geräteparameter können Sicherheitsexperten untersuchen, wie das Gerät reagiert und ob Schwachstellen ausgenutzt werden können.
Viele Operationen auf Smartcards laufen extrem schnell ab. Die Zeitsteuerung im Nanosekundenbereich ermöglicht es den Auswertern, gezielt bestimmte Anweisungen, kryptografische Berechnungen oder Sicherheitsprüfungen auszuwerten und so die Effektivität und Reproduzierbarkeit von Angriffen zu verbessern.
Ja. Der DS1160A lässt sich in die Inspector-Software integrieren und unterstützt so Automatisierung, Parametererkundung, Kampagnenmanagement, Ergebnisanalyse und wiederholbare Fehlereinspeisungs-Workflows.