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스마트 카드, 보안 요소 및 이와 유사한 보안에 민감한 디바이스는 논리적 공격과 물리적 공격 모두로부터 민감한 자산을 보호하도록 설계되었습니다. 이러한 보호 기능의 효과를 평가하려면 보안에 민감한 작동 중에 정확하고 재현 가능한 결함을 주입하는 기능이 필요한 경우가 많습니다. 스마트 카드 보안 테스트를 통해 보안 엔지니어는 결함 주입 공격에 대한 디바이스 복원력을 평가하고, 구현된 대책을 검증하며, 제품이 시장에 출시되기 전에 취약성을 식별할 수 있습니다.
통합된 테스트 환경 내에서 결함 주입 하드웨어, 트리거링, 자동화 및 분석을 결합합니다.
Product type
Smartcard voltage and clock glitcher
Input voltage range
-7.4 V to +4.2 V
Maximum voltage
8.5 V
Technology
Device Security
초고속 FPGA 기술을 사용하는 DS1160A 스마트카드 전압 및 클록 글리처는 완전히 프로그래밍 가능한 하드웨어로 2 ns 결함을 생성할 수 있습니다.
초고속 FPGA 기술을 사용하는 DS1160A 스마트카드 전압 및 클록 글리처는 완전히 프로그래밍 가능한 하드웨어로 2 ns 결함을 생성할 수 있습니다.
DS1160A
초고속 FPGA 기술을 사용하는 DS1160A 스마트카드 전압 및 클록 글리처는 완전히 프로그래밍 가능한 하드웨어로 2 ns 결함을 생성할 수 있습니다.
초고속 FPGA 기술을 사용하는 DS1160A 스마트카드 전압 및 클록 글리처는 완전히 프로그래밍 가능한 패턴 및 제어 로직으로 2 ns 결함을 생성할 수 있습니다. DS1160A에는 전압 및 클록 글리칭을 수행하기 위한 통합 회로와 DS1101A 결함 주입 레이저 시스템의 광학 펄스를 제어하기 위한 출력 채널이 있습니다.
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스마트 카드 보안 테스트는 스마트 카드, 보안 엘리먼트 또는 이와 유사한 보안 중요 기기가 결함 주입 및 부채널 분석과 같은 물리적 공격에 저항할 수 있는지 평가합니다. 목표는 배포 전에 취약점을 식별하고, 보안 대책을 검증하며, 기기 복원력을 향상시키는 것입니다.
스마트 카드는 암호화 키, 결제 자격 증명, 신호 데이터, 인증 비밀 등 민감한 자산을 저장하는 경우가 많습니다. 가치 높은 정보를 보호하기 때문에, 보안 메커니즘을 우회하거나 기기 동작을 변경하도록 설계된 결함 주입 공격에 대해 자주 평가됩니다.
결함 주입은 작동 중인 스마트 카드에 고의로 비정상적인 조건을 유발하는 것입니다. 정밀한 순간에 전력, 클록 신호 또는 기타 기기 파라미터를 교란함으로써 보안 엔지니어가 기기의 응답 방식을 조사하고 취약점을 악용할 수 있는지 확인할 수 있습니다.
많은 스마트 카드 작업은 극도로 빠르게 수행됩니다. 나노초 수준의 타이밍 제어를 통해 평가자는 특정 명령어, 암호화 연산 또는 보안 검사를 정밀하게 타겟팅하여 공격 효과와 반복성을 향상시킬 수 있습니다.
예. DS1160A는 Inspector 소프트웨어와 통합되어 자동화, 파라미터 탐색, 캠페인 관리, 결과 분석 및 반복 가능한 결함 주입 워크플로를 지원합니다.