DS1160A

정밀함과 제어 기능을 갖춘 스마트 카드 보안 테스트

스마트 카드, 보안 요소 및 이와 유사한 보안에 민감한 디바이스는 논리적 공격과 물리적 공격 모두로부터 민감한 자산을 보호하도록 설계되었습니다. 이러한 보호 기능의 효과를 평가하려면 보안에 민감한 작동 중에 정확하고 재현 가능한 결함을 주입하는 기능이 필요한 경우가 많습니다. 스마트 카드 보안 테스트를 통해 보안 엔지니어는 결함 주입 공격에 대한 디바이스 복원력을 평가하고, 구현된 대책을 검증하며, 제품이 시장에 출시되기 전에 취약성을 식별할 수 있습니다.

DS1160A 스마트카드 전압 및 클록 글리처는 스마트 카드 기반 타겟에 대해 전압, 클록 및 광학 결함 주입 워크플로를 수행하기 위한 통합 플랫폼을 제공합니다. 초고속 FPGA 기술을 기반으로 구축되어 나노초 수준의 정밀도로 매우 정확하고 재현 가능한 결함 조건을 생성할 수 있습니다. 보안 팀은 결함 파라미터를 체계적으로 변경하는 동시에 복잡한 테스트 시나리오를 구성, 자동화 및 실행하여 악용 가능한 디바이스 동작을 식별할 수 있습니다.
 
Inspector 소프트웨어 및 보완적인 결함 주입 하드웨어와 통합된 스마트 카드 보안 테스트 솔루션은 취약성 검색을 간소화하고, 수작업을 줄이며, 테스트 커버리지를 개선하는 데 도움이 됩니다. 인증 준비 및 보안 평가부터 고급 연구 및 대책 검증에 이르기까지 이러한 도구는 효과적인 결함 주입 테스트에 필요한 정밀성, 자동화 및 재현성을 제공합니다.

정밀한 결함 조건 생성

나노초 수준의 타이밍 제어로 정확하고 재현 가능한 전압 및 클록 글리치를 생성합니다.

보안 평가 자동화

최소한의 수동 개입으로 결함 파라미터를 체계적으로 변경하고 대규모 테스트 캠페인을 실행합니다.

스마트 카드 대책 검증

전압, 클록 및 결함 주입 공격에 대해 구현된 보호 기능의 효과를 평가합니다.

통합 테스트 워크플로 지원

통합된 테스트 환경 내에서 결함 주입 하드웨어, 트리거링, 자동화 및 분석을 결합합니다.

제품 이미지
  • Product type

    Smartcard voltage and clock glitcher

  • Input voltage range

    -7.4 V to +4.2 V

  • Maximum voltage

    8.5 V

  • Technology

    Device Security

자주 묻는 질문