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- Panoramica
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Verifica la sicurezza delle smart card con precisione e controllo
Le smart card, gli elementi di sicurezza e altri dispositivi simili, fondamentali per la sicurezza, sono progettati per proteggere le risorse sensibili da attacchi sia logici che fisici. La valutazione dell’efficacia di tali protezioni richiede spesso la capacità di iniettare guasti precisi e ripetibili durante le operazioni critiche per la sicurezza. Il test di sicurezza delle smart card consente ai tecnici della sicurezza di valutare la resilienza dei dispositivi agli attacchi basati sull’iniezione di guasti, di convalidare le contromisure implementate e di identificare le vulnerabilità prima che i prodotti raggiungano il mercato.
Generare condizioni di guasto precise
Automatizzare le valutazioni di sicurezza
Verifica delle contromisure relative alle smart card
Supporto dei flussi di lavoro di test integrati
Combina hardware per l'iniezione di errori, trigger, automazione e analisi all'interno di un ambiente di test unificato.
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Product type
Smartcard voltage and clock glitcher
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Input voltage range
-7.4 V to +4.2 V
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Maximum voltage
8.5 V
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Technology
Device Security
Configurazioni più popolari
Generatore di glitch per tensione e clock delle smart card
Grazie alla tecnologia FPGA ultraveloce, il generatore di glitch di tensione e clock per smart card DS1160A è in grado di generare guasti da 2 ns con hardware completamente programmabile.
Grazie alla tecnologia FPGA ultraveloce, il generatore di glitch di tensione e clock per smart card DS1160A è in grado di generare guasti da 2 ns con hardware completamente programmabile.
Generatore di glitch per tensione e clock delle smart card
DS1160A
Grazie alla tecnologia FPGA ultraveloce, il generatore di glitch di tensione e clock per smart card DS1160A è in grado di generare guasti da 2 ns con hardware completamente programmabile.
Grazie alla tecnologia FPGA ultraveloce, il generatore di glitch di tensione e clock per smart card DS1160A è in grado di generare guasti da 2 ns con pattern e logica di controllo completamente programmabili. Il DS1160A dispone di circuiti integrati per la generazione di glitch di tensione e clock e di un canale di uscita per il controllo degli impulsi ottici sul sistema laser di iniezione di guasti DS1101A.
- Generare glitch di brevissima durata utilizzando la tecnologia FPGA nel generatore di pattern digitali integrato per eseguire test estremamente efficaci
- Crea facilmente qualsiasi scenario di test grazie al set di istruzioni di perturbazione
- Riprodurre i test registrando con precisione il comportamento della smart card
- Ridurre i tempi di test grazie all'esecuzione automatizzata di test su un ampio insieme di parametri di perturbazione
- Si integra perfettamente con il generatore di trigger basato su pattern DS1002A e con il sistema laser per l'iniezione di guasti DS1101A
- Prevenire i danni alle schede grazie al limitatore di corrente regolabile
- Raggiungete un elevato livello di affidabilità grazie a test di perturbazione completi e coerenti. Non richiede il disassemblaggio del chip.
White Paper
Dalle classiche smartcard agli elementi sicuri integrati
Comprendere i fattori critici che i fornitori devono considerare quando integrano Secure Elements nel System on Chip (SoC) per sostituire le smart card classiche.
Servizi e assistenza
Innova rapidamente grazie a piani di assistenza personalizzati e tempi di risposta e risoluzione prioritari.
Ottieni abbonamenti prevedibili basati su leasing e soluzioni complete per la gestione dell'intero ciclo di vita, in modo da raggiungere più rapidamente i tuoi obiettivi aziendali.
Beneficia di un servizio di alto livello come abbonato KeysightCare per ottenere assistenza tecnica dedicata e molto altro ancora.
Assicurati che il tuo sistema di test funzioni secondo le specifiche e soddisfi gli standard locali e globali.
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Domande frequenti
I test di sicurezza delle smart card valutano se una smart card, un elemento di sicurezza o un dispositivo analogo, fondamentale per la sicurezza, sia in grado di resistere ad attacchi fisici quali l'iniezione di errori e l'analisi dei canali laterali. L'obiettivo è identificare le vulnerabilità, verificare l'efficacia delle contromisure di sicurezza e migliorare la resilienza del dispositivo prima della sua implementazione.
Le smart card spesso contengono risorse sensibili quali chiavi crittografiche, credenziali di pagamento, dati identificativi e segreti di autenticazione. Poiché proteggono informazioni di grande valore, vengono spesso sottoposte a test contro attacchi di iniezione di errori, progettati per aggirare i meccanismi di sicurezza o alterare il comportamento del dispositivo.
L'iniezione di errori consiste nell'introdurre deliberatamente condizioni anomale in una smart card durante il suo funzionamento. Interferendo con l'alimentazione, i segnali di clock o altri parametri del dispositivo in momenti precisi, gli ingegneri della sicurezza possono analizzare la risposta del dispositivo e stabilire se sia possibile sfruttare eventuali vulnerabilità.
Molte operazioni delle smart card avvengono con estrema rapidità. Il controllo temporale a livello di nanosecondi consente agli sviluppatori di concentrarsi con precisione su istruzioni specifiche, calcoli crittografici o controlli di sicurezza, migliorando l’efficacia e la ripetibilità degli attacchi.
Sì. Il DS1160A si integra con il software Inspector per supportare l'automazione, l'analisi dei parametri, la gestione delle campagne, l'analisi dei risultati e flussi di lavoro ripetibili di iniezione di guasti.