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- Soluzioni
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Note applicative autorevoli, schede tecniche, progetti di riferimento e procedure di collaudo per accelerare le decisioni relative alla progettazione e alla convalida.
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LINGUA
Test di sicurezza delle smart card Iniezione di errori
Modello: DS1160A
prev
- Panoramica
- Opzioni
- Accessori
- Software
- Supporto
Generatore di glitch per tensione e clock delle smart card
Grazie alla tecnologia FPGA ultraveloce, il generatore di glitch di tensione e clock per smart card DS1160A è in grado di generare guasti da 2 ns con hardware completamente programmabile.
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Maximum voltage
8.5 V
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Technology
Device Security
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Input voltage range
-7.4 V to +4.2 V
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Product type
Smartcard voltage and clock glitcher
Pronto per un preventivo
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Punti salienti
Grazie alla tecnologia FPGA ultraveloce, il generatore di glitch di tensione e clock per smart card DS1160A è in grado di generare guasti da 2 ns con pattern e logica di controllo completamente programmabili. Il DS1160A dispone di circuiti integrati per la generazione di glitch di tensione e clock e di un canale di uscita per il controllo degli impulsi ottici sul sistema laser di iniezione di guasti DS1101A.
- Generare glitch di brevissima durata utilizzando la tecnologia FPGA nel generatore di pattern digitali integrato per eseguire test estremamente efficaci
- Crea facilmente qualsiasi scenario di test grazie al set di istruzioni di perturbazione
- Riprodurre i test registrando con precisione il comportamento della smart card
- Ridurre i tempi di test grazie all'esecuzione automatizzata di test su un ampio insieme di parametri di perturbazione
- Si integra perfettamente con il generatore di trigger basato su pattern DS1002A e con il sistema laser per l'iniezione di guasti DS1101A
- Prevenire i danni alle schede grazie al limitatore di corrente regolabile
- Raggiungete un elevato livello di affidabilità grazie a test di perturbazione completi e coerenti. Non richiede il disassemblaggio del chip.
Servizi e assistenza
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