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Les cartes à puce, les éléments sécurisés et autres dispositifs critiques pour la sécurité sont conçus pour protéger les ressources sensibles contre les attaques tant logiques que physiques. L'évaluation de l'efficacité de ces protections nécessite souvent de pouvoir injecter des défauts précis et reproductibles lors d'opérations critiques pour la sécurité. Les tests de sécurité des cartes à puce permettent aux ingénieurs en sécurité d'évaluer la résilience des dispositifs face aux attaques par injection de défauts, de valider les contre-mesures mises en œuvre et d'identifier les vulnérabilités avant la mise sur le marché des produits.
Réunissez le matériel d'injection de défauts, le déclenchement, l'automatisation et l'analyse au sein d'un environnement de test unifié.
Product type
Smartcard voltage and clock glitcher
Input voltage range
-7.4 V to +4.2 V
Maximum voltage
8.5 V
Technology
Device Security
Grâce à la technologie FPGA ultra-rapide, le générateur de glitches de tension et d'horloge pour cartes à puce DS1160A est capable de produire des défauts de 2 ns à l'aide d'un matériel entièrement programmable.
Grâce à la technologie FPGA ultra-rapide, le générateur de glitches de tension et d'horloge pour cartes à puce DS1160A est capable de produire des défauts de 2 ns à l'aide d'un matériel entièrement programmable.
DS1160A
Grâce à la technologie FPGA ultra-rapide, le générateur de glitches de tension et d'horloge pour cartes à puce DS1160A est capable de produire des défauts de 2 ns à l'aide d'un matériel entièrement programmable.
Grâce à la technologie FPGA ultra-rapide, le générateur de glitches de tension et d'horloge pour cartes à puce DS1160A est capable de générer des défauts de 2 ns avec des séquences et une logique de commande entièrement programmables. Le DS1160A intègre des circuits permettant de générer des glitches de tension et d'horloge, ainsi qu'un canal de sortie pour contrôler les impulsions optiques du système laser d'injection de défauts DS1101A.
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Les tests de sécurité des cartes à puce permettent d'évaluer si une carte à puce, un élément sécurisé ou tout autre dispositif similaire essentiel à la sécurité est capable de résister à des attaques physiques telles que l'injection de défauts et l'analyse par canal latéral. L'objectif est d'identifier les vulnérabilités, de valider les mesures de sécurité et d'améliorer la résilience du dispositif avant son déploiement.
Les cartes à puce stockent souvent des données sensibles telles que des clés cryptographiques, des identifiants de paiement, des données d'identité et des secrets d'authentification. Comme elles protègent des informations de grande valeur, elles font fréquemment l'objet de tests visant à détecter les attaques par injection de défauts, conçues pour contourner les mécanismes de sécurité ou modifier le comportement des appareils.
L'injection de défauts consiste à introduire délibérément des conditions anormales dans une carte à puce pendant son fonctionnement. En perturbant l'alimentation, les signaux d'horloge ou d'autres paramètres du dispositif à des moments précis, les ingénieurs en sécurité peuvent analyser la manière dont celui-ci réagit et déterminer si des vulnérabilités peuvent être exploitées.
De nombreuses opérations effectuées sur les cartes à puce se déroulent à une vitesse fulgurante. Un contrôle temporel à l'échelle de la nanoseconde permet aux évaluateurs de cibler avec précision des instructions spécifiques, des calculs cryptographiques ou des contrôles de sécurité, améliorant ainsi l'efficacité et la reproductibilité des attaques.
Oui. Le DS1160A s'intègre au logiciel Inspector pour prendre en charge l'automatisation, l'exploration des paramètres, la gestion des campagnes, l'analyse des résultats et les workflows reproductibles d'injection de défauts.