DS1160A

Tester la sécurité des cartes à puce avec précision et maîtrise

Les cartes à puce, les éléments sécurisés et autres dispositifs critiques pour la sécurité sont conçus pour protéger les ressources sensibles contre les attaques tant logiques que physiques. L'évaluation de l'efficacité de ces protections nécessite souvent de pouvoir injecter des défauts précis et reproductibles lors d'opérations critiques pour la sécurité. Les tests de sécurité des cartes à puce permettent aux ingénieurs en sécurité d'évaluer la résilience des dispositifs face aux attaques par injection de défauts, de valider les contre-mesures mises en œuvre et d'identifier les vulnérabilités avant la mise sur le marché des produits.

Le générateur de défauts de tension et d'horloge pour cartes à puce DS1160A offre une plateforme intégrée permettant de mettre en œuvre des workflows d'injection de défauts de tension, d'horloge et optiques sur des cibles basées sur des cartes à puce. S'appuyant sur une technologie FPGA ultra-rapide, il permet de générer des conditions de défaut hautement précises et reproductibles, avec une précision de l'ordre de la nanoseconde. Les équipes de sécurité peuvent configurer, automatiser et exécuter des scénarios de test complexes tout en faisant varier systématiquement les paramètres de défaut afin d'identifier les comportements exploitables des périphériques.
 
Grâce à leur intégration avec le logiciel Inspector et le matériel d'injection de défauts qui l'accompagne, les solutions de test de sécurité des cartes à puce permettent de rationaliser la détection des vulnérabilités, de réduire les tâches manuelles et d'améliorer la couverture des tests. De la préparation à la certification et aux évaluations de sécurité jusqu'à la recherche avancée et à la validation des contre-mesures, ces outils offrent la précision, l'automatisation et la reproductibilité nécessaires à la réalisation de tests d'injection de défauts efficaces.

Générer des conditions de défaillance précises

Générez des perturbations de tension et d'horloge précises et reproductibles grâce à un contrôle de la synchronisation à l'échelle de la nanoseconde.

Automatiser les évaluations de sécurité

Faire varier systématiquement les paramètres de défaut et mener des campagnes d'essais à grande échelle avec un minimum d'intervention manuelle.

Valider les mesures de protection des cartes à puce

Évaluer l'efficacité des mesures de protection mises en place contre les attaques par injection de tension, d'horloge et de défaut.

Prise en charge des flux de travail de test intégrés

Réunissez le matériel d'injection de défauts, le déclenchement, l'automatisation et l'analyse au sein d'un environnement de test unifié.

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  • Product type

    Smartcard voltage and clock glitcher

  • Input voltage range

    -7.4 V to +4.2 V

  • Maximum voltage

    8.5 V

  • Technology

    Device Security

Questions fréquemment posées