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Comprueba la seguridad de las tarjetas inteligentes con precisión y control
Las tarjetas inteligentes, los elementos de seguridad y otros dispositivos similares de importancia crítica para la seguridad están diseñados para proteger los activos sensibles frente a ataques tanto lógicos como físicos. La evaluación de la eficacia de estas protecciones suele requerir la capacidad de inyectar fallos precisos y repetibles durante operaciones críticas para la seguridad. Las pruebas de seguridad de tarjetas inteligentes permiten a los ingenieros de seguridad evaluar la resiliencia de los dispositivos frente a ataques de inyección de fallos, validar las contramedidas implementadas e identificar vulnerabilidades antes de que los productos salgan al mercado.
Generar condiciones de fallo precisas
Automatizar las evaluaciones de seguridad
Validar las medidas de seguridad de las tarjetas inteligentes
Compatibilidad con flujos de trabajo de pruebas integrados
Combina el hardware de inyección de fallos, la activación, la automatización y el análisis en un entorno de pruebas unificado.
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Product type
Smartcard voltage and clock glitcher
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Input voltage range
-7.4 V to +4.2 V
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Maximum voltage
8.5 V
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Technology
Device Security
Configuraciones más populares
Generador de interferencias de tensión y reloj para tarjetas inteligentes
Gracias a la tecnología FPGA ultrarrápida, el generador de fallos de tensión y reloj para tarjetas inteligentes DS1160A puede generar fallos de 2 ns mediante un hardware totalmente programable.
Gracias a la tecnología FPGA ultrarrápida, el generador de fallos de tensión y reloj para tarjetas inteligentes DS1160A puede generar fallos de 2 ns mediante un hardware totalmente programable.
Libros blancos
De las tarjetas inteligentes clásicas a los elementos seguros integrados
Comprender los factores críticos que los proveedores deben tener en cuenta al integrar elementos seguros en el sistema en chip (SoC) para sustituir las tarjetas inteligentes clásicas.
Servicios y asistencia
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Preguntas frecuentes
Las pruebas de seguridad de tarjetas inteligentes evalúan si una tarjeta inteligente, un elemento seguro o cualquier otro dispositivo similar de importancia crítica para la seguridad es capaz de resistir ataques físicos, como la inyección de fallos y el análisis de canales laterales. El objetivo es identificar vulnerabilidades, validar las contramedidas de seguridad y mejorar la resiliencia del dispositivo antes de su implementación.
Las tarjetas inteligentes suelen almacenar activos sensibles, como claves criptográficas, credenciales de pago, datos de identidad y secretos de autenticación. Dado que protegen información de gran valor, se someten con frecuencia a pruebas de resistencia frente a ataques de inyección de fallos diseñados para eludir los mecanismos de seguridad o alterar el comportamiento del dispositivo.
La inyección de fallos consiste en introducir deliberadamente condiciones anómalas en una tarjeta inteligente durante su funcionamiento. Al alterar la alimentación, las señales de reloj u otros parámetros del dispositivo en momentos concretos, los ingenieros de seguridad pueden analizar cómo responde el dispositivo y determinar si es posible aprovechar sus vulnerabilidades.
Muchas operaciones de las tarjetas inteligentes se realizan con extrema rapidez. El control de la sincronización a nivel de nanosegundos permite a los evaluadores centrarse con precisión en instrucciones específicas, cálculos criptográficos o comprobaciones de seguridad, lo que mejora la eficacia y la repetibilidad de los ataques.
Sí. El DS1160A se integra con el software Inspector para facilitar la automatización, la exploración de parámetros, la gestión de campañas, el análisis de resultados y los flujos de trabajo repetibles de inyección de fallos.