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Keysight 專業級源量測單元 (SMU) 提供單通道和雙通道配置,為並行 IV 量測和功率電子測試提供更大的靈活性。憑藉脈衝量測功能,Keysight 專業級 SMU 提供 7 合 1 功能 — 非常適合使用短脈衝擷取詳細的 IV 曲線,最大限度地減少功率和熱量,保護半導體和先進材料測試中的敏感元件。選擇我們其中一種熱門配置,或根據您的應用配置專屬方案。
將脈衝產生器、DMM、電源供應器、電流源、電子負載、AWG 和數位轉換器整合於單一儀器中,無需同步或配置多個裝置。
提供高達 3 A 的輸出,非常適合測試功率電子產品中的高電流裝置(例如 MOSFET 或高亮度 LED),或用於電池測試的更快充電/放電。
在前面板顯示器上顯示數值資料和圖形繪圖,實現量測值與裝置行為的即時關聯。
支援長時間自動化測試所需的大量資料收集,每通道具備 100,000 點記憶體,並提供無限次觸發計數。
Source resolution
5.5 digits
最小電流量測解析度
100 fA
Number of channels
1 至 2
Pulse output
Yes
每個輸出的最大電壓
210 V
每個輸出的最大電流
3.0 A DC / 10.5 A pulse
最大的取樣率
50 kSa/s
Minimum sampling interval
20 µs
Keysight B2901C 精密電源量測單元 (SMU) 是一款精巧、經濟實惠的 1 通道 SMU,可精確地提供和量測電壓與電流。憑藉其 4 象限功能,它無需多個儀器即可提供使用者友善的 I/V 量測。B2901C 配備 4.3 吋彩色顯示器,用於圖形或數值量測,並免費提供用於遠端操作的 PC 控制軟體。它還支援 SCPI 指令,可與傳統 SMU 設定無縫整合,確保高吞吐量以實現高效測試。
B2901C 可讓您執行以下操作:
Keysight B2902C 精密電源量測單元 (SMU) 是一款精巧、經濟實惠的 2 通道 SMU,可精確地提供和量測電壓與電流。憑藉其 4 象限功能,它無需多個儀器即可提供使用者友善的 I/V 量測。B2902C 配備 4.3 吋彩色顯示器,用於圖形或數值量測,並免費提供用於遠端操作的 PC 控制軟體。它還支援 SCPI 指令,可與傳統 SMU 設定無縫整合,確保高吞吐量以實現高效測試。
B2902C 可讓您執行以下操作:
透過精選支援方案以及優先回應與周轉時間,加速創新。
取得可預測的租賃式訂閱和完整的生命週期管理解決方案,讓您更快達成業務目標。
成為 KeysightCare 訂閱者,體驗更優質的服務,獲得承諾的技術回應及更多。
確保您的測試系統符合規格要求,並符合當地與全球標準。
透過內部講師指導的訓練和線上學習,快速進行量測。
下載 Keysight 軟體,或將您的軟體更新至最新版本。
選擇電源量測單元 (SMU) 時,必須考量幾個關鍵規格,以確保其符合預期應用的要求。
電壓和電流範圍至關重要,因為 SMU 在汲取和量測從低到高電壓(例如,微伏到數百伏)和電流(從飛安到數安培)的能力上有所不同。這使得它們適用於從奈米技術到電力電子測試等各種應用。
解析度和準確度決定了 SMU 能夠多精確地輸出和量測訊號。高階型號提供次奈伏 (nV) 和飛安 (fA) 精確度,這對於低洩漏電流測量和半導體特性分析至關重要。
另一個重要因素是四象限操作,它允許 SMU 汲取和供應電源。此功能對於電池模擬、元件測試和電源管理應用非常有用。
測量速度(取樣率)和穩定時間會影響測試效率,尤其是在自動化生產環境中。更快的測量速度有助於最佳化吞吐量並提高測試可靠性。
順從(限制)設定對於保護敏感裝置至關重要,可將電壓或電流限制在安全水準,並防止測試期間的潛在損壞。USB、GPIB、LAN 或 LXI 等連接選項對於遠端控制和自動化很重要,可實現與測試系統的無縫整合。
此外,軟體支援 IV 曲線追蹤、可編程掃描和腳本編程,提升了可用性,使執行複雜量測和自動化測試序列變得更加容易。
考量這些因素可確保所選的 SMU 提供研發和生產測試所需的精準度、彈性和效能。
源量測單元 (SMU) 在半導體裝置測試中扮演著關鍵角色,提供精確的電流和電壓源出、準確的量測和進階自動化功能。它們用於特性分析各種半導體元件,例如電晶體、二極體、MOSFET、IGBT 和積體電路 (IC)。
半導體元件需要高度精確的 IV(電流-電壓)特性分析,而 SMU 透過提供四象限操作來實現此功能。這允許電流和電壓的汲取與灌入,使其適用於測試主動和被動元件。
SMU用於確定關鍵的半導體參數,例如臨界電壓 (Vth)、洩漏電流 (Ioff)、崩潰電壓 (BV)、導通電阻 (Rds(on)) 和增益特性。它們能夠以極低的雜訊和漂移測量低電流(飛安培範圍)和高電壓,這使其對於測試低功率和高功率半導體元件都至關重要。
此外,SMU 提供脈衝測試功能,有助於減少功率半導體裝置的自熱效應。這確保了準確的特性分析,而不會改變裝置的電氣特性。
在自動化半導體測試中,SMU 可與探針台和晶圓測試儀無縫整合,從而在研發和生產環境中實現高效的參數測試。
其可編程掃描、順從限制和高速量測能力,使工程師能夠執行精確、可重複且安全的測試。這使得 SMU 在半導體研究、故障分析和整個產業的品質保證中不可或缺。
源量測單元 (SMU) 透過精確地提供電壓或電流,同時高精度測量待測裝置 (DUT) 的相應響應,來執行電流-電壓 (IV) 特性分析。此過程對於分析半導體、二極體、電晶體、電阻器、LED、電池和其他電子元件的電氣特性至關重要。
SMU 可以在電壓源模式(施加電壓並量測產生的電流)或電流源模式(施加電流並量測產生的電壓)下操作。這種靈活性允許產生 IV 曲線,這對於了解裝置在不同電氣條件下的行為至關重要。
透過使用可程式掃描,SMU 可以在指定範圍內自動改變電壓或電流,同時連續量測對應的輸出。這使得繪製 IV 曲線成為可能,進而揭示諸如臨界電壓、洩漏電流、電阻和崩潰電壓等特性。
此外,可以設定相符性限制,以保護敏感裝置免受過度電壓或電流的影響,確保安全可靠的測試。
進階 SMU 也支援脈衝源,可將測試期間的裝置發熱降至最低,以及四象限操作,允許在源出和汲入條件下進行測試。
這種精確度和控制水準使 SMU 成為半導體元件特性分析、電力電子測試以及研發和生產環境中材料研究的首選工具。
源量測單元 (SMU) 中直流和脈衝量測之間的差異,在於電壓或電流如何隨時間施加和量測。這會影響準確度、功耗以及每種方法對不同應用的適用性。
在直流 (DC) 量測中,SMU 會對待測裝置 (DUT) 施加連續、穩定的電壓或電流。這使得能夠進行精確、長時間的量測,對於 IV 曲線追蹤、洩漏電流測試和穩態半導體特性分析至關重要。然而,連續的直流源輸出可能導致自熱效應,這可能會改變 DUT 的電氣特性,特別是在功率元件、MOSFET 和 LED 中。
相較之下,脈衝量測會施加短持續時間的電壓或電流脈衝,顯著減少熱效應。這使得能夠進行更高的電壓或電流測試,而不會使待測裝置 (DUT) 過熱或損壞。脈衝模式特別適用於高功率半導體測試、薄膜材料和電池模擬,在這些應用中,過度加熱可能導致讀數不準確或裝置劣化。
進階 SMU 提供可編程脈衝參數,包括脈衝寬度、上升時間和工作週期,實現對施加訊號的精確控制。透過選擇直流電進行穩態分析,或選擇脈衝以最大程度地減少熱影響,工程師可以在研發和生產測試中最佳化其量測,以實現準確度、可重複性和可靠性