- Panoramica
- Tutti i modelli
- Supporto
Alta risoluzione per misurazioni SMU ad alta precisione
Le unità di misura Expert (SMU) Keysight Expert sono disponibili sia in configurazione a canale singolo che a doppio canale, garantendo una maggiore flessibilità per le misurazioni IV in parallelo e i test sull'elettronica di potenza. Grazie alle funzionalità di misurazione a impulsi, Expert Keysight Expert offrono una funzionalità 7-in-1, ideale per acquisire curve IV dettagliate utilizzando impulsi brevi che riducono al minimo il consumo energetico e il calore, proteggendo così i dispositivi sensibili nei test sui semiconduttori e sui materiali avanzati. Scegliete una delle nostre configurazioni più richieste oppure configuratene una specifica per la vostra applicazione.
7 strumenti in 1
Combina un generatore di impulsi, un multimetro digitale, un alimentatore, una sorgente di corrente, un carico elettronico, un generatore di forme d'onda analogiche e un digitalizzatore in un unico strumento, eliminando la necessità di sincronizzare o configurare più dispositivi.
Corrente di uscita elevata
Fornisce un'uscita fino a 3 A, ideale per testare dispositivi ad alta corrente come MOSFET o LED ad alta luminosità nell'elettronica di potenza o per una ricarica/scarica più rapida per i test delle batterie.
Modalità doppia visualizzazione
Visualizza sia i dati numerici che i grafici sul display del pannello frontale, consentendo una correlazione immediata tra i valori misurati e il comportamento del dispositivo.
Memoria profonda
Supporta la raccolta di grandi volumi di dati per test automatizzati di lunga durata, con 100.000 punti di memoria per canale e un numero infinito di conteggi di trigger.
-
Source resolution
5.5 digits
-
Minimum current measurement resolution
100 fA
-
Number of channels
1 to 2
-
Pulse output
Yes
-
Maximum voltage per output
210 V
-
Maximum current per output
3.0 A DC / 10.5 A pulse
-
Maximum sample rate
50 kSa/s
-
Minimum sampling interval
20 µs
Configurazioni più popolari
Unità di misura e generazione di sorgente da banco classe SM2, canale singolo, risoluzione 100 fA
Unità di misura e generazione di sorgenti da banco classe SM2, doppio canale, risoluzione 100 fA
Servizi e assistenza
Innova rapidamente grazie a piani di assistenza personalizzati e tempi di risposta e risoluzione prioritari.
Ottieni abbonamenti prevedibili basati su leasing e soluzioni complete per la gestione dell'intero ciclo di vita, in modo da raggiungere più rapidamente i tuoi obiettivi aziendali.
Beneficia di un servizio di alto livello come abbonato KeysightCare per ottenere assistenza tecnica dedicata e molto altro ancora.
Assicurati che il tuo sistema di test funzioni secondo le specifiche e soddisfi gli standard locali e globali.
Effettua misurazioni rapidamente grazie alla formazione interna con istruttore e all'e-learning.
Scarica il software Keysight o aggiorna il tuo software alla versione più recente.
Domande frequenti
Quando si seleziona un'unità di misura sorgente (SMU), è necessario prendere in considerazione diverse specifiche chiave per garantire che soddisfi i requisiti dell'applicazione prevista.
La gamma di tensione e corrente è fondamentale, poiché le SMU variano nella loro capacità di fornire e misurare tensioni da basse ad alte (ad esempio, da microvolt a centinaia di volt) e correnti (da femtoampere a diversi ampere). Ciò le rende adatte ad applicazioni che vanno dalla nanotecnologia ai test di elettronica di potenza.
La risoluzione e la precisione definiscono l'accuratezza con cui l'SMU è in grado di rilevare e misurare i segnali. I modelli di fascia alta offrono una precisione inferiore al nanovolt (nV) e al femtoampere (fA), essenziale per le misurazioni di corrente a bassa dispersione e la caratterizzazione dei semiconduttori.
Un altro fattore importante è il funzionamento a 4 quadranti, che consente all'SMU di fornire e assorbire potenza. Questa capacità è utile per la simulazione delle batterie, il collaudo dei componenti e le applicazioni di gestione dell'alimentazione.
La velocità di misurazione (frequenza di campionamento) e il tempo di assestamento influiscono sull'efficienza dei test, in particolare negli ambienti di produzione automatizzati. Velocità di misurazione più elevate consentono di ottimizzare la produttività e migliorare l'affidabilità dei test.
Le impostazioni di conformità (limite) sono essenziali per proteggere i dispositivi sensibili, limitando la tensione o la corrente a livelli di sicurezza e prevenendo potenziali danni durante i test. Le opzioni di connettività come USB, GPIB, LAN o LXI sono importanti per il controllo remoto e l'automazione, consentendo una perfetta integrazione nei sistemi di test.
Inoltre, il supporto software per il tracciamento della curva IV, le scansioni programmabili e lo scripting migliorano l'usabilità, facilitando l'esecuzione di misurazioni complesse e l'automazione delle sequenze di test.
La considerazione di questi fattori garantisce che l'SMU selezionato fornisca la precisione, la flessibilità e le prestazioni necessarie per la ricerca, lo sviluppo e i test di produzione.
Le unità di misura della sorgente (SMU) svolgono un ruolo cruciale nei test dei dispositivi a semiconduttori, fornendo una sorgente di corrente e tensione precisa, misurazioni accurate e funzionalità di automazione avanzate. Sono utilizzate per caratterizzare vari componenti a semiconduttori quali transistor, diodi, MOSFET, IGBT e circuiti integrati (IC).
I dispositivi a semiconduttori richiedono una caratterizzazione IV (corrente-tensione) altamente accurata, e le SMU lo rendono possibile grazie al funzionamento a 4 quadranti. Ciò consente sia l'erogazione che l'assorbimento di corrente e tensione, rendendole adatte al collaudo di dispositivi sia attivi che passivi.
Gli SMU vengono utilizzati per determinare parametri critici dei semiconduttori quali tensione di soglia (Vth), corrente di dispersione (Ioff), tensione di rottura (BV), resistenza allo stato attivo (Rds(on)) e caratteristiche di guadagno. La loro capacità di misurare correnti basse (nell'ordine dei femtoampere) e tensioni elevate con rumore e deriva minimi li rende essenziali per testare dispositivi a semiconduttori sia a bassa che ad alta potenza.
Inoltre, le SMU offrono funzionalità di test a impulsi che aiutano a ridurre gli effetti di autoriscaldamento nei dispositivi a semiconduttori di potenza. Ciò garantisce una caratterizzazione accurata senza alterare le proprietà elettriche del dispositivo.
Nel collaudo automatizzato dei semiconduttori, le SMU si integrano perfettamente con le stazioni di sondaggio e i tester per wafer, consentendo un collaudo parametrico efficiente sia in ambienti di ricerca e sviluppo che di produzione.
Le loro scansioni programmabili, i limiti di conformità e le capacità di misurazione ad alta velocità consentono agli ingegneri di eseguire test precisi, ripetibili e sicuri. Ciò rende le SMU indispensabili nella ricerca sui semiconduttori, nell'analisi dei guasti e nella garanzia della qualità in tutto il settore.
Un'unità di misura sorgente (SMU) esegue la caratterizzazione corrente-tensione (IV) fornendo con precisione tensione o corrente e misurando contemporaneamente la risposta corrispondente del dispositivo in prova (DUT) con elevata accuratezza. Questo processo è essenziale per analizzare le proprietà elettriche di semiconduttori, diodi, transistor, resistori, LED, batterie e altri componenti elettronici.
L'SMU può funzionare in modalità sorgente di tensione (applicando una tensione e misurando la corrente risultante) o in modalità sorgente di corrente (applicando una corrente e misurando la tensione risultante). Questa flessibilità consente la generazione della curva IV, fondamentale per comprendere il comportamento di un dispositivo in diverse condizioni elettriche.
Utilizzando sweep programmabili, un SMU può variare automaticamente la tensione o la corrente in un intervallo specificato, misurando continuamente l'uscita corrispondente. Ciò consente di tracciare curve IV che rivelano caratteristiche quali tensione di soglia, corrente di dispersione, resistenza e tensione di rottura.
Inoltre, è possibile impostare limiti di conformità per proteggere i dispositivi sensibili da tensioni o correnti eccessive, garantendo test sicuri e affidabili.
Advanced supportano inoltre la generazione di impulsi, che riduce al minimo il surriscaldamento dei dispositivi durante i test, e il funzionamento a 4 quadranti, che consente di eseguire i test sia in condizioni di emissione che di assorbimento.
Questo livello di precisione e controllo rende le SMU lo strumento preferito per la caratterizzazione dei dispositivi a semiconduttori, i test sull'elettronica di potenza e la ricerca sui materiali sia in ambito di ricerca e sviluppo che in ambito produttivo.
La differenza tra le misurazioni CC e a impulsi nell'unità di misura della sorgente (SMU) risiede nel modo in cui la tensione o la corrente vengono applicate e misurate nel tempo. Ciò influisce sulla precisione, sulla dissipazione di potenza e sull'idoneità di ciascun metodo per diverse applicazioni.
Nelle misurazioni CC, l'SMU applica una tensione o una corrente continua e costante al dispositivo in prova (DUT). Ciò consente misurazioni precise e di lunga durata, essenziali per il tracciamento della curva IV, il test della corrente di dispersione e la caratterizzazione dei semiconduttori in condizioni di stabilità. Tuttavia, l'alimentazione CC continua può causare effetti di autoriscaldamento, che possono alterare le proprietà elettriche del DUT, in particolare nei dispositivi di potenza, nei MOSFET e nei LED.
Al contrario, le misurazioni a impulsi applicano un impulso di tensione o corrente di breve durata, riducendo significativamente gli effetti termici. Ciò consente di eseguire test con tensioni o correnti più elevate senza surriscaldare o danneggiare il dispositivo in prova. La modalità a impulsi è particolarmente vantaggiosa per i test su semiconduttori ad alta potenza, materiali a film sottile e simulazioni di batterie, dove un riscaldamento eccessivo potrebbe portare a letture imprecise o al deterioramento del dispositivo.
Advanced offrono parametri di impulso programmabili, tra cui larghezza dell'impulso, tempo di salita e rapporto di ciclo, consentendo un controllo preciso del segnale applicato. Scegliendo tra corrente continua (DC) per l'analisi in regime stazionario e impulsi per ridurre al minimo l'impatto termico, gli ingegneri possono ottimizzare le proprie misurazioni in termini di precisione, ripetibilità e affidabilità nei test di ricerca e sviluppo e di produzione