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Haute résolution pour des mesures SMU de haute précision
Les unités de mesure Expert (SMU) Keysight Expert sont disponibles en configurations à un ou deux canaux, offrant ainsi une plus grande flexibilité pour les mesures IV en parallèle et les essais en électronique de puissance. Grâce à leurs capacités de mesure par impulsions, Expert Keysight Expert offrent une fonctionnalité 7-en-1, idéale pour enregistrer des courbes IV détaillées à l'aide d'impulsions courtes qui minimisent la consommation d'énergie et la chaleur, protégeant ainsi les dispositifs sensibles lors des essais sur les semi-conducteurs et les matériaux avancés. Choisissez l'une de nos configurations les plus courantes ou configurez-en une spécialement adaptée à votre application.
7 instruments en 1
Combine un générateur d'impulsions, un multimètre numérique, une alimentation électrique, une source de courant, une charge électronique, un générateur de signaux analogiques et un numériseur en un seul instrument, éliminant ainsi le besoin de synchroniser ou de configurer plusieurs appareils.
Courant de sortie élevé
Fournit une sortie pouvant atteindre 3 A, idéale pour tester des dispositifs à courant élevé tels que les MOSFET ou les LED haute luminosité dans l'électronique de puissance, ou pour accélérer la charge/décharge lors des tests de batteries.
Mode double affichage
Affiche à la fois les données numériques et les graphiques sur l'écran du panneau avant, permettant une corrélation instantanée entre les valeurs mesurées et le comportement de l'appareil.
Mémoire profonde
Prend en charge la collecte de données à haut débit pour les tests automatisés de longue durée, avec 100 000 points de mémoire par canal et un nombre infini de déclenchements.
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Source resolution
5.5 digits
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Minimum current measurement resolution
100 fA
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Number of channels
1 to 2
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Pulse output
Yes
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Maximum voltage per output
210 V
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Maximum current per output
3.0 A DC / 10.5 A pulse
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Maximum sample rate
50 kSa/s
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Minimum sampling interval
20 µs
Configurations les plus populaires
Unité de mesure et de source de table de classe SM2, monocanal, résolution de 100 fA
Unité de mesure et de source de table de classe SM2, double canal, résolution de 100 fA
Services et assistance
Innovez rapidement grâce à des plans d'assistance personnalisés et à des délais de réponse et d'exécution prioritaires.
Bénéficiez d'abonnements prévisibles basés sur un contrat de location et de solutions de gestion du cycle de vie complet afin d'atteindre plus rapidement vos objectifs commerciaux.
Bénéficiez d'un service haut de gamme en tant qu'abonné KeysightCare pour obtenir une assistance technique dédiée et bien plus encore.
Assurez-vous que votre système de test fonctionne conformément aux spécifications et respecte les normes locales et internationales.
Effectuez rapidement des mesures grâce à des formations internes dispensées par des instructeurs et à l'apprentissage en ligne.
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Questions fréquemment posées
Lors du choix d'une unité de mesure de source (SMU), plusieurs spécifications clés doivent être prises en compte afin de s'assurer qu'elle répond aux exigences de l'application prévue.
La plage de tension et de courant est cruciale, car les SMU varient dans leur capacité à fournir et à mesurer des tensions faibles à élevées (par exemple, de quelques microvolts à plusieurs centaines de volts) et des courants (de quelques femtoampères à plusieurs ampères). Cela les rend adaptés à des applications allant de la nanotechnologie aux tests en électronique de puissance.
La résolution et la précision définissent la précision avec laquelle le SMU peut capter et mesurer les signaux. Les modèles haut de gamme offrent une précision inférieure au nanovolt (nV) et au femtoampère (fA), ce qui est essentiel pour les mesures de courant de fuite faible et la caractérisation des semi-conducteurs.
Un autre facteur important est le fonctionnement à 4 quadrants, qui permet au SMU de fournir et d'absorber de l'énergie. Cette capacité est utile pour la simulation de batteries, les tests de composants et les applications de gestion de l'alimentation.
La vitesse de mesure (fréquence d'échantillonnage) et le temps de stabilisation ont une incidence sur l'efficacité des tests, en particulier dans les environnements de production automatisés. Des vitesses de mesure plus rapides permettent d'optimiser le débit et d'améliorer la fiabilité des tests.
Les paramètres de conformité (limites) sont essentiels pour protéger les appareils sensibles en limitant la tension ou le courant à des niveaux sûrs et en prévenant tout dommage potentiel pendant les tests. Les options de connectivité telles que USB, GPIB, LAN ou LXI sont importantes pour le contrôle à distance et l'automatisation, car elles permettent une intégration transparente dans les systèmes de test.
De plus, la prise en charge logicielle du tracé de courbes IV, des balayages programmables et des scripts améliore la convivialité, facilitant ainsi la réalisation de mesures complexes et l'automatisation des séquences de test.
La prise en compte de ces facteurs garantit que le SMU sélectionné offre la précision, la flexibilité et les performances nécessaires pour la recherche, le développement et les essais de production.
Les unités de mesure de source (SMU) jouent un rôle crucial dans les tests des dispositifs à semi-conducteurs en fournissant une alimentation précise en courant et en tension, des mesures exactes et des capacités d'automatisation avancées. Elles sont utilisées pour caractériser divers composants à semi-conducteurs tels que les transistors, les diodes, les MOSFET, les IGBT et les circuits intégrés (CI).
Les dispositifs à semi-conducteurs nécessitent une caractérisation IV (courant-tension) très précise, ce que permettent les SMU grâce à leur fonctionnement à 4 quadrants. Cela permet à la fois de fournir et d'absorber du courant et de la tension, ce qui les rend adaptés aux tests de dispositifs actifs et passifs.
Les SMU sont utilisées pour déterminer les paramètres critiques des semi-conducteurs, tels que la tension de seuil (Vth), le courant de fuite (Ioff), la tension de claquage (BV), la résistance à l'état passant (Rds(on)) et les caractéristiques de gain. Leur capacité à mesurer des courants faibles (de l'ordre du femtoampère) et des tensions élevées avec un minimum de bruit et de dérive les rend indispensables pour tester les dispositifs à semi-conducteurs de faible et de forte puissance.
De plus, les SMU offrent des capacités de test d'impulsion, qui contribuent à réduire les effets d'auto-échauffement dans les dispositifs à semi-conducteurs de puissance. Cela garantit une caractérisation précise sans altérer les propriétés électriques du dispositif.
Dans le domaine des tests automatisés de semi-conducteurs, les SMU s'intègrent parfaitement aux stations de test et aux testeurs de plaquettes, permettant ainsi de réaliser des tests paramétriques efficaces tant en R&D qu'en production.
Leurs balayages programmables, leurs limites de conformité et leurs capacités de mesure à grande vitesse permettent aux ingénieurs d'effectuer des tests précis, reproductibles et sûrs. Cela rend les SMU indispensables dans la recherche sur les semi-conducteurs, l'analyse des défaillances et l'assurance qualité dans l'ensemble du secteur.
Une unité de mesure de source (SMU) effectue une caractérisation courant-tension (IV) en fournissant avec précision une tension ou un courant tout en mesurant simultanément la réponse correspondante du dispositif sous test (DUT) avec une grande précision. Ce processus est essentiel pour analyser les propriétés électriques des semi-conducteurs, diodes, transistors, résistances, LED, batteries et autres composants électroniques.
Le SMU peut fonctionner en mode source de tension (en appliquant une tension et en mesurant le courant résultant) ou en mode source de courant (en appliquant un courant et en mesurant la tension résultante). Cette flexibilité permet de générer une courbe IV, ce qui est essentiel pour comprendre le comportement d'un dispositif dans différentes conditions électriques.
En utilisant des balayages programmables, un SMU peut faire varier automatiquement la tension ou le courant dans une plage spécifiée tout en mesurant en continu la sortie correspondante. Cela permet de tracer des courbes IV qui révèlent des caractéristiques telles que la tension de seuil, le courant de fuite, la résistance et la tension de claquage.
De plus, des limites de conformité peuvent être définies afin de protéger les appareils sensibles contre les tensions ou courants excessifs, garantissant ainsi des tests sûrs et fiables.
Advanced prennent également en charge la génération d'impulsions, qui réduit au minimum l'échauffement des composants pendant les tests, ainsi que le fonctionnement en quatre quadrants, qui permet d'effectuer des tests aussi bien en mode source qu'en mode puits.
Ce niveau de précision et de contrôle fait des SMU l'outil privilégié pour la caractérisation des dispositifs à semi-conducteurs, les tests en électronique de puissance et la recherche sur les matériaux, tant dans les environnements de R&D que de production.
La différence entre les mesures en courant continu et les mesures par impulsions dans l'unité de mesure de source (SMU) réside dans la manière dont la tension ou le courant est appliqué et mesuré dans le temps. Cela a une incidence sur la précision, la dissipation de puissance et l'adéquation de chaque méthode pour différentes applications.
Dans les mesures CC, le SMU applique une tension ou un courant continu et stable au dispositif sous test (DUT). Cela permet d'effectuer des mesures précises et de longue durée, essentielles pour le traçage de courbes IV, les tests de courant de fuite et la caractérisation des semi-conducteurs en régime permanent. Cependant, l'alimentation CC continue peut provoquer des effets d'auto-échauffement, susceptibles d'altérer les propriétés électriques du DUT, en particulier dans les dispositifs de puissance, les MOSFET et les LED.
En revanche, les mesures par impulsions appliquent une impulsion de tension ou de courant de courte durée, ce qui réduit considérablement les effets thermiques. Cela permet de réaliser des tests à tension ou courant plus élevés sans surchauffer ni endommager le dispositif testé. Le mode impulsion est particulièrement avantageux pour les tests de semi-conducteurs à haute puissance, les matériaux en couche mince et les simulations de batteries, où un échauffement excessif pourrait entraîner des lectures inexactes ou une dégradation du dispositif.
Advanced offrent des paramètres d'impulsion programmables, notamment la largeur d'impulsion, le temps de montée et le rapport cyclique, ce qui permet un contrôle précis du signal appliqué. En choisissant entre le courant continu pour l'analyse en régime permanent et les impulsions pour minimiser l'impact thermique, les ingénieurs peuvent optimiser leurs mesures en termes de précision, de répétabilité et de fiabilité, tant dans le cadre de la R&D que des essais de production