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Alta resolución para mediciones SMU de alta precisión
Las unidades de medición Expert (SMU) Keysight Expert están disponibles en configuraciones de uno y dos canales, lo que ofrece una mayor flexibilidad para realizar mediciones IV en paralelo y pruebas de electrónica de potencia. Gracias a sus capacidades de medición por impulsos, Expert Keysight Expert ofrecen una funcionalidad 7 en 1, ideal para capturar curvas IV detalladas mediante impulsos cortos que minimizan el consumo de energía y el calor, protegiendo así los dispositivos sensibles en las pruebas de semiconductores y materiales avanzados. Elija una de nuestras configuraciones más populares o configure una específica para su aplicación.
7 instrumentos en 1
Combina un generador de impulsos, un multímetro digital, una fuente de alimentación, una fuente de corriente, una carga electrónica, un generador de ondas aleatorias y un digitalizador en un solo instrumento, lo que elimina la necesidad de sincronizar o configurar varios dispositivos.
Corriente de salida alta
Proporciona una salida de hasta 3 A, ideal para probar dispositivos de alta corriente como MOSFET o LED de alto brillo en electrónica de potencia o para una carga/descarga más rápida en pruebas de baterías.
Modo de doble vista
Muestra tanto datos numéricos como gráficos en la pantalla del panel frontal, lo que permite una correlación instantánea entre los valores medidos y el comportamiento del dispositivo.
Memoria profunda
Admite la recopilación de grandes volúmenes de datos para pruebas automatizadas de larga duración, con 100 000 puntos de memoria por canal y un número infinito de recuentos de disparos.
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Source resolution
5.5 digits
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Minimum current measurement resolution
100 fA
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Number of channels
1 to 2
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Pulse output
Yes
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Maximum voltage per output
210 V
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Maximum current per output
3.0 A DC / 10.5 A pulse
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Maximum sample rate
50 kSa/s
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Minimum sampling interval
20 µs
Las configuraciones más populares
Unidad de medición y fuente de mesa de clase SM2, un solo canal, resolución de 100 fA
Unidad de medición y fuente de mesa de clase SM2, doble canal, resolución de 100 fA
Servicios y asistencia
Innovar rápidamente con planes de asistencia personalizados y tiempos de respuesta y resolución priorizados.
Obtenga suscripciones predecibles basadas en arrendamiento y soluciones completas de gestión del ciclo de vida, para que pueda alcanzar sus objetivos empresariales más rápidamente.
Disfrute de un servicio superior como suscriptor de KeysightCare y obtenga una respuesta técnica comprometida y mucho más.
Asegúrese de que su sistema de pruebas funcione según las especificaciones y cumpla con las normas locales y globales.
Realice mediciones rápidamente con formación interna impartida por instructores y aprendizaje electrónico.
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Preguntas más frecuentes
Al seleccionar una unidad de medida de fuente (SMU), se deben tener en cuenta varias especificaciones clave para garantizar que cumpla con los requisitos de la aplicación prevista.
El rango de tensión y corriente es crucial, ya que las SMU varían en su capacidad para suministrar y medir tensiones bajas y altas (por ejemplo, desde microvoltios hasta cientos de voltios) y corrientes (desde femtoamperios hasta varios amperios). Esto las hace adecuadas para aplicaciones que van desde la nanotecnología hasta las pruebas de electrónica de potencia.
La resolución y la precisión definen la exactitud con la que la SMU puede obtener y medir señales. Los modelos de gama alta ofrecen una precisión inferior a un nanovoltios (nV) y femtoamperios (fA), lo cual es esencial para las mediciones de corriente de fuga baja y la caracterización de semiconductores.
Otro factor importante es el funcionamiento en 4 cuadrantes, que permite a la SMU suministrar y absorber energía. Esta capacidad resulta útil para la simulación de baterías, las pruebas de componentes y las aplicaciones de gestión de energía.
La velocidad de medición (frecuencia de muestreo) y el tiempo de estabilización influyen en la eficiencia de las pruebas, especialmente en entornos de producción automatizados. Las velocidades de medición más rápidas ayudan a optimizar el rendimiento y a mejorar la fiabilidad de las pruebas.
Los ajustes de conformidad (límite) son esenciales para proteger los dispositivos sensibles, ya que restringen el voltaje o la corriente a niveles seguros y evitan posibles daños durante las pruebas. Las opciones de conectividad, como USB, GPIB, LAN o LXI, son importantes para el control remoto y la automatización, ya que permiten una integración perfecta en los sistemas de prueba.
Además, la compatibilidad del software con el trazado de curvas IV, barridos programables y scripts mejora la facilidad de uso, lo que simplifica la realización de mediciones complejas y la automatización de secuencias de pruebas.
Tener en cuenta estos factores garantiza que la SMU seleccionada proporcione la precisión, flexibilidad y rendimiento necesarios para la investigación, el desarrollo y las pruebas de producción.
Las unidades de medida de fuente (SMU) desempeñan un papel crucial en las pruebas de dispositivos semiconductores, ya que proporcionan fuentes precisas de corriente y tensión, mediciones exactas y capacidades avanzadas de automatización. Se utilizan para caracterizar diversos componentes semiconductores, como transistores, diodos, MOSFET, IGBT y circuitos integrados (IC).
Los dispositivos semiconductores requieren una caracterización IV (corriente-voltaje) de alta precisión, y las SMU lo hacen posible gracias a su funcionamiento en 4 cuadrantes. Esto permite tanto la fuente como el sumidero de corriente y voltaje, lo que las hace adecuadas para probar dispositivos activos y pasivos.
Las SMU se utilizan para determinar parámetros críticos de los semiconductores, como el voltaje umbral (Vth), la corriente de fuga (Ioff), el voltaje de ruptura (BV), la resistencia en estado activo (Rds(on)) y las características de ganancia. Su capacidad para medir corrientes bajas (en el rango de los femtoamperios) y voltajes altos con un ruido y una deriva mínimos las hace esenciales para probar dispositivos semiconductores de baja y alta potencia.
Además, las SMU ofrecen capacidades de prueba de impulsos, lo que ayuda a reducir los efectos de autocalentamiento en los dispositivos semiconductores de potencia. Esto garantiza una caracterización precisa sin alterar las propiedades eléctricas del dispositivo.
En las pruebas automatizadas de semiconductores, las SMU se integran a la perfección con las estaciones de sonda y los probadores de obleas, lo que permite realizar pruebas paramétricas eficientes tanto en entornos de I+D como de producción.
Sus barridos programables, límites de conformidad y capacidades de medición de alta velocidad permiten a los ingenieros realizar pruebas precisas, repetibles y seguras. Esto hace que las SMU sean indispensables en la investigación de semiconductores, el análisis de fallos y el control de calidad en toda la industria.
Una unidad de medida de fuente (SMU) realiza la caracterización de corriente-voltaje (IV) suministrando voltaje o corriente con precisión, al tiempo que mide simultáneamente la respuesta correspondiente del dispositivo bajo prueba (DUT) con alta precisión. Este proceso es esencial para analizar las propiedades eléctricas de semiconductores, diodos, transistores, resistencias, LED, baterías y otros componentes electrónicos.
El SMU puede funcionar en modo fuente de tensión (aplicando una tensión y midiendo la corriente resultante) o en modo fuente de corriente (aplicando una corriente y midiendo la tensión resultante). Esta flexibilidad permite generar curvas IV, lo cual es fundamental para comprender el comportamiento de un dispositivo en diferentes condiciones eléctricas.
Mediante el uso de barridos programables, una SMU puede variar automáticamente el voltaje o la corriente en un rango específico mientras mide continuamente la salida correspondiente. Esto permite trazar curvas IV que revelan características tales como voltaje umbral, corriente de fuga, resistencia y voltaje de ruptura.
Además, se pueden establecer límites de cumplimiento para proteger los dispositivos sensibles del exceso de voltaje o corriente, lo que garantiza unas pruebas seguras y fiables.
Advanced también admiten la generación de impulsos, lo que minimiza el calentamiento del dispositivo durante las pruebas, y el funcionamiento en cuatro cuadrantes, lo que permite realizar pruebas tanto en condiciones de fuente como de sumidero.
Este nivel de precisión y control convierte a las SMU en la herramienta preferida para la caracterización de dispositivos semiconductores, las pruebas de electrónica de potencia y la investigación de materiales, tanto en entornos de I+D como de producción.
La diferencia entre las mediciones de CC y de impulsos en la unidad de medida de fuente (SMU) radica en cómo se aplica y se mide el voltaje o la corriente a lo largo del tiempo. Esto afecta a la precisión, la disipación de potencia y la idoneidad de cada método para diferentes aplicaciones.
En las mediciones de CC, la SMU aplica un voltaje o corriente continua y constante al dispositivo bajo prueba (DUT). Esto permite realizar mediciones precisas y de larga duración, esenciales para el trazado de curvas IV, las pruebas de corriente de fuga y la caracterización de semiconductores en estado estable. Sin embargo, el suministro continuo de CC puede provocar efectos de autocalentamiento, lo que puede alterar las propiedades eléctricas del DUT, especialmente en dispositivos de potencia, MOSFET y LED.
Por el contrario, las mediciones de impulsos aplican un impulso de tensión o corriente de corta duración, lo que reduce significativamente los efectos térmicos. Esto permite realizar pruebas con tensiones o corrientes más altas sin sobrecalentar ni dañar el dispositivo bajo prueba. El modo de impulsos es especialmente beneficioso para las pruebas de semiconductores de alta potencia, materiales de película fina y simulaciones de baterías, en los que un calentamiento excesivo podría dar lugar a lecturas inexactas o a la degradación del dispositivo.
Advanced ofrecen parámetros de pulso programables, como la anchura de pulso, el tiempo de subida y el ciclo de trabajo, lo que permite un control preciso de la señal aplicada. Al elegir entre corriente continua para el análisis en régimen estacionario y pulsos para minimizar el impacto térmico, los ingenieros pueden optimizar sus mediciones en cuanto a precisión, repetibilidad y fiabilidad en las pruebas de I+D y de producción.