N1125A

適用於複雜數位板的非侵入式測試覆蓋率

Keysight 邊界掃描分析儀為高密度電路板提供先進的數位測試功能,無需實體探棒存取即可實現精確的故障隔離。該系統專為高效的結構測試而設計,並為複雜數位組件中的互連、短路、開路和固定故障提供快速診斷。透過與電路內和功能測試系統的無縫整合,邊界掃描支援基於 JTAG 的掃描鏈。它可存取難以觸及的網路,縮短測試開發時間並提高覆蓋率。立即索取 Keysight 邊界掃描分析儀的報價。 想進一步瞭解此解決方案?請參閱以下資源。

 

存取難以觸及的網路節點

實現對隱藏或無法存取的接腳的測試覆蓋,無需實體探測,非常適合高密度、多層 PCB 和細間距元件。

快速、準確的故障隔離

快速偵測並精確定位數位接腳層級的開路、短路和卡滯故障,縮短除錯時間並提高良率。

無縫整合

輕鬆整合到電路內測試和功能測試系統中,在不增加複雜性或測試時間的情況下擴展測試覆蓋範圍。

非侵入式結構測試

透過標準測試存取埠 (TAP) 執行結構診斷,無需侵入式探測或額外的硬體儀器。

產品影像
  • System width

    120 mm

  • CET ports

    1

  • Tap IO ports

    4

  • Remote test configurability

    Yes

常見問題