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복잡한 디지털 보드용 비침습적 테스트 커버리지

키사이트 바운더리 스캔 분석기는 고밀도 보드를 위한 고급 디지털 테스트 기능을 제공하여 물리적 프로브 액세스 없이 정밀한 결함 격리를 가능하게 합니다. 이 시스템은 효율적인 구조 테스트를 위해 설계되었으며 복잡한 디지털 어셈블리 전반에 걸쳐 인터커넥트, 단락, 개방 및 스턱-앳(stuck-at) 결함에 대한 빠른 진단을 제공합니다. 인서킷 및 기능 테스트 시스템에 원활하게 통합되어 바운더리 스캔은 JTAG 기반 스캔 체인을 지원합니다. 접근하기 어려운 넷에 대한 액세스를 가능하게 하여 테스트 개발 시간을 단축하고 커버리지를 향상시킵니다. 지금 키사이트 바운더리 스캔 분석기에 대한 견적을 요청하십시오. 이 솔루션에 대해 더 자세히 알아보시겠습니까? 아래 리소스를 살펴보십시오.

 

접근하기 어려운 넷에 접근

물리적 프로빙 없이 숨겨지거나 접근 불가능한 핀의 테스트 커버리지를 가능하게 하며, 고밀도 다층 PCB 및 미세 피치 부품에 이상적입니다.

빠르고 정확한 결함 분리

디지털 핀 레벨에서 오픈, 단락 및 스턱앳 결함을 빠르게 감지하고 정확히 찾아내어 디버그 시간을 단축하고 수율을 향상시킵니다.

원활한 통합

인서킷 및 기능 테스트 시스템에 쉽게 통합하여 복잡성을 추가하거나 테스트 시간을 늘리지 않고도 커버리지를 확장할 수 있습니다.

비침습적 구조 테스트

표준 테스트 액세스 포트(TAP)를 통해 구조 진단을 수행하여, 침습적 프로빙 또는 추가 하드웨어 계측의 필요성을 없앱니다.

제품 이미지
  • System width

    120 mm

  • CET ports

    1

  • Tap IO ports

    4

  • Remote test configurability

    Yes

자주 묻는 질문