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Cobertura de teste não intrusiva para placas digitais complexas

Os analisadores de varredura de limite da Keysight oferecem recursos avançados de teste digital para placas de alta densidade, permitindo o isolamento preciso de falhas sem a necessidade de acesso físico à sonda. O sistema foi projetado para testes estruturais eficientes e fornece diagnósticos rápidos de interconexões, curtos-circuitos, aberturas e falhas de travamento em conjuntos digitais complexos. Com integração perfeita em sistemas de teste em circuito e funcional, o boundary scan oferece suporte a cadeias de varredura baseadas em JTAG. Ele permite o acesso a redes de difícil acesso, reduzindo o tempo de desenvolvimento de testes e melhorando a cobertura. Solicite hoje mesmo uma cotação para o analisador de varredura de limite da Keysight. Quer saber mais sobre esta solução? Explore os recursos abaixo.

 

Acesse redes difíceis de alcançar

Permite a cobertura de teste de pinos ocultos ou inacessíveis sem sondagem física, ideal para PCBs densas e multicamadas e componentes de passo fino.

Isolamento rápido e preciso de falhas

Detecta e identifica rapidamente aberturas, curtos-circuitos e falhas de bloqueio no nível do pino digital, reduzindo o tempo de depuração e melhorando o rendimento.

Integração perfeita

Integre-se facilmente em sistemas de teste em circuito e funcionais para expandir a cobertura sem adicionar complexidade ou aumentar o tempo de teste.

Testes estruturais não intrusivos

Realiza diagnósticos estruturais por meio de portas de acesso de teste padrão (TAPs), eliminando a necessidade de sondagem invasiva ou instrumentação de hardware adicional.

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  • System width

    120 mm

  • CET ports

    1

  • Tap IO ports

    4

  • Remote test configurability

    Yes

Perguntas frequentes