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Nicht-invasive Testabdeckung für komplexe digitale Platinen
Keysight Boundary-Scan-Analysatoren bieten fortschrittliche digitale Testfunktionen für hochdichte Leiterplatten und ermöglichen eine präzise Fehlerlokalisierung ohne physischen Zugriff mit Sonden. Das System ist für effiziente Strukturtests konzipiert und bietet eine schnelle Diagnose von Verbindungen, Kurzschlüssen, Unterbrechungen und permanenten Fehlern in komplexen digitalen Baugruppen. Dank der nahtlosen Integration in In-Circuit- und Funktionstestsysteme unterstützt Boundary Scan JTAG-basierte Scan-Ketten. Es ermöglicht den Zugriff auf schwer erreichbare Netze, verkürzt die Testentwicklungszeit und verbessert die Testabdeckung. Fordern Sie noch heute ein Angebot für den Keysight Boundary-Scan-Analysator an. Möchten Sie mehr über diese Lösung erfahren? Entdecken Sie die folgenden Ressourcen.
Zugang zu schwer erreichbaren Netzen
Ermöglicht die Prüfung versteckter oder unzugänglicher Pins ohne physisches Abtasten, ideal für dichte, mehrlagige Leiterplatten und Bauteile mit feiner Rasterteilung.
Schnelle, präzise Fehlerisolierung
Erkennt und lokalisiert schnell Unterbrechungen, Kurzschlüsse und permanente Fehler auf digitaler Pin-Ebene, wodurch die Fehlersuche beschleunigt und die Ausbeute verbessert wird.
Nahtlose Integration
Lässt sich problemlos in In-Circuit- und Funktionstestsysteme integrieren, um die Testabdeckung zu erweitern, ohne die Komplexität zu erhöhen oder die Testzeit zu verlängern.
zerstörungsfreie Strukturprüfung
Führt Strukturdiagnostik über Standard-Testzugangsports (TAPs) durch, wodurch die Notwendigkeit invasiver Sondierungen oder zusätzlicher Hardwareinstrumentierung entfällt.
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System width
120 mm
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CET ports
1
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Tap IO ports
4
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Remote test configurability
Yes
Typische Konfiguration
x1149 Boundary Scan Analyzer
- Wie Boundary Scan die Serverplatinenprüfung verbessert
- Verbesserung der Testabdeckungsanalyse mit Boundary Scan
- Wie man Boundary Scan in In-Circuit-Tester integriert
Dienstleistungen und Support
Innovieren Sie im Handumdrehen mit maßgeschneiderten Supportplänen und priorisierten Reaktions- und Bearbeitungszeiten.
Profitieren Sie von planbaren, leasingbasierten Abonnements und umfassenden Lifecycle-Management-Lösungen – damit Sie Ihre Geschäftsziele schneller erreichen.
Als KeysightCare-Abonnent profitieren Sie von einem erweiterten Service mit zuverlässiger technischer Unterstützung und vielem mehr.
Stellen Sie sicher, dass Ihr Testsystem den Spezifikationen entspricht und sowohl lokale als auch globale Standards erfüllt.
Schnelle Messungen dank hauseigener, von Ausbildern geleiteter Schulungen und E-Learning.
Laden Sie die Keysight-Software herunter oder aktualisieren Sie Ihre Software auf die neueste Version.
Häufig gestellte Fragen
Die Boundary-Scan-Analyse ermöglicht das Testen der Verbindungen auf Leiterplatten ohne Verwendung physischer Testspitzen. Sie nutzt den IEEE-1149.1-Standard (JTAG), um direkt über die in kompatiblen Bauelementen integrierte Scan-Kette auf die Pin-Zustände zuzugreifen und diese zu steuern. Dieses Verfahren ist besonders wertvoll für moderne Leiterplatten mit hoher Bauteildichte und eingeschränkter Zugänglichkeit. Anstatt die Pins direkt zu prüfen, manipuliert Boundary Scan die digitalen Signale intern und erkennt so Unterbrechungen, Kurzschlüsse und andere Strukturfehler. Es ist ein leistungsstarkes Werkzeug für die Validierung von Prototypen in frühen Entwicklungsstadien, die Inbetriebnahme von Leiterplatten und die Produktionsprüfung.
Darüber hinaus unterstützen Boundary-Scan-Analysatoren die In-System-Programmierung von Flash-Speichern und FPGAs, wodurch der Bedarf an separaten Programmierstationen reduziert wird. Boundary Scan ist weit verbreitet, da es effizientes Testen und Debuggen komplexer Leiterplattenlayouts ermöglicht, insbesondere dort, wo traditionelle Testmethoden aufgrund von Miniaturisierung und neuen Gehäusetechnologien an ihre Grenzen stoßen.
Herkömmliche In-Circuit-Tests erfordern den physischen Kontakt mit zahlreichen Testpunkten auf der Leiterplatte mithilfe von Nadelbett-Testern oder Flying-Probe-Systemen. Mit zunehmender Kompaktheit und Schichtanzahl der Leiterplatten wird das Erreichen dieser Testpunkte immer schwieriger und kostspieliger. Boundary Scanning beseitigt diese Abhängigkeit weitgehend, indem es virtuellen Zugriff über scanfähige Komponenten ermöglicht und so die Anzahl der benötigten Testspitzen und die Komplexität der Testvorrichtungen drastisch reduziert. Dies führt zu kleineren, kostengünstigeren Testvorrichtungen und kürzeren Einrichtungszeiten.
Durch die geringere Anzahl an zu wartenden und zu kalibrierenden mechanischen Schnittstellen sinken auch die laufenden Wartungskosten. Da viele Tests wiederverwendet oder per Software aktualisiert werden können, sind Anpassungen für neue Leiterplattenversionen einfacher und kostengünstiger. Dieser Ansatz ermöglicht es Herstellern, schnell auf Designänderungen oder Aktualisierungen von Testplänen zu reagieren, ohne zusätzliche Kosten für die Neuentwicklung von Vorrichtungen tragen zu müssen. Dadurch wird Boundary Scan zu einer hochskalierbaren und kostengünstigen Lösung für Produktionsumgebungen mit kleinen und großen Stückzahlen.
Ja. Obwohl Boundary Scanning häufig zur Erkennung von Unterbrechungen und Kurzschlüssen in digitalen Signalleitungen eingesetzt wird, erweitert es seine Einsatzmöglichkeiten, wenn es in eine umfassendere Teststrategie integriert wird. So lassen sich beispielsweise fehlende oder falsch platzierte Bauteile identifizieren, indem das erwartete logische Verhalten eines Schaltkreises überprüft wird. Es hilft außerdem bei der Erkennung von permanenten Fehlern und spezifischen Signalintegritätsproblemen, insbesondere in digitalen Kommunikationsbussen.
In Kombination mit fortschrittlichen Werkzeugen oder funktionalen Testmethoden liefert die Boundary-Scan-Analyse diagnostisches Feedback für spezifische Bauelemente wie Speicher, Logikgatter und programmierbare Bauteile. Unter bestimmten Bedingungen lassen sich damit auch die Ausrichtung und die Verbindungen zwischen Stromversorgungs- und Masseanschlüssen überprüfen. Obwohl sie nicht alle Formen elektrischer Tests (wie Analogtests oder komplexe Funktionsverifikation) ersetzen kann, verbessert die Boundary-Scan-Analyse die Fehlerabdeckung in schwer zugänglichen Bereichen deutlich. Sie ergänzt andere Strategien zur Steigerung der Testzuverlässigkeit auf Leiterplattenebene.
Boundary-Scan-Analysatoren eignen sich hervorragend für die In-System-Programmierung (ISP), da sie über ihre JTAG-Ports oder Boundary-Scan-Schnittstellen direkt auf Geräte wie Mikrocontroller, FPGAs und Flash-Speicher zugreifen können. Dies ermöglicht die Programmierung von Geräten nach dem Auflöten auf die Platine, wodurch die logistische Komplexität reduziert und der Bedarf an vorprogrammierten Komponenten entfällt. Die Flexibilität der In-System-Programmierung erlaubt Änderungen an Firmware oder Konfigurationsdaten auch spät im Produktionszyklus oder sogar während Feldaktualisierungen. Sie erleichtert zudem automatisierte Fertigungsabläufe, indem Programmierschritte in Testsequenzen integriert werden, wodurch die Bedienerzeit verkürzt wird.
ISP mittels Boundary Scanning ist besonders wertvoll in Umgebungen, in denen mehrere Produktvarianten gefertigt werden oder häufige Firmware-Änderungen erforderlich sind. Es minimiert das Bestandsrisiko und stellt sicher, dass beim Endtest oder der Inbetriebnahme der Platine stets die aktuellste Firmware programmiert wird. Dies verbessert die Effizienz und vereinfacht die Versionskontrolle im gesamten Fertigungsprozess.
Ja. Boundary-Scan-Analysatoren sind äußerst effektiv für die Serienfertigung, insbesondere dort, wo Geschwindigkeit, Wiederholgenauigkeit und Automatisierung entscheidend sind. Dank ihrer softwarebasierten Architektur lassen sie sich problemlos in automatisierte Testsysteme und Manufacturing Execution Systems (MES) integrieren. Einmal erstellte Testpläne können mit minimalem manuellem Eingriff für mehrere Einheiten wiederverwendet werden. Boundary-Scan-Tests sind typischerweise schnell (innerhalb von Sekunden) und erfordern keine komplexen Vorrichtungen oder manuelle Messungen. Dadurch eignen sie sich ideal für Umgebungen mit hohem Durchsatz.
Die hohe Diagnosegenauigkeit von Boundary-Scannern gewährleistet die schnelle Erkennung von Fehlern, wodurch Nachbearbeitungszeiten reduziert und die Ausbeute gesteigert werden. Boundary-Scan-Analysatoren unterstützen zudem die Fehlerprotokollierung und -analyse in Echtzeit, die für Industrie-4.0-Initiativen zunehmend an Bedeutung gewinnen. Für Großhersteller, die Kosten, Qualität und Effizienz optimieren möchten, sind Boundary-Scan-Analysatoren eine bewährte Lösung, die sich von der Prototypenvalidierung bis zur Serienproduktion optimal skalieren lässt.