- 概要
- すべてのモデル
- サポート
複雑なデジタルボード向けの非侵襲テストカバレッジ
キーサイトのバウンダリスキャンアナライザは、高密度基板向けに高度なデジタルテスト機能を提供し、物理的なプローブアクセスを必要とせずに正確な故障分離を可能にします。このシステムは、効率的な構造テストのために設計されており、複雑なデジタルアセンブリにおけるインターコネクト、ショート、オープン、スタックアット故障の迅速な診断を提供します。インサーキットおよびファンクションテストシステムへのシームレスな統合により、バウンダリスキャンはJTAGベースのスキャンチェーンをサポートします。これにより、アクセスしにくいネットへのアクセスが可能になり、テスト開発時間を短縮し、カバレッジを向上させます。キーサイトのバウンダリスキャンアナライザの見積もりを今すぐご依頼ください。 このソリューションについてさらに詳しく知りたいですか？以下のリソースをご覧ください。
アクセスしにくいネットにアクセスします。
物理的なプロービングなしで、隠れたピンやアクセスできないピンのテストカバレッジを可能にし、高密度多層PCBやファインピッチ部品に最適です。
高速かつ正確な故障箇所特定
デジタルピンレベルでのオープン、ショート、スタックアット故障を迅速に検出して特定し、デバッグ時間の短縮と歩留まりの向上に貢献します。
シームレスな統合
複雑さを増したりテスト時間を延長したりすることなく、インサーキットおよびファンクションテストシステムに容易に統合し、カバレッジを拡張できます。
非侵襲構造試験
標準テストアクセスポート (TAP) を介して構造診断を実行し、侵襲的なプロービングや追加のハードウェア計測器を不要にします。
-
System width
120 mm
-
CET ports
1
-
Tap IO ports
4
-
Remote test configurability
Yes
標準構成
x1149バウンダリ・スキャン・アナライザ
- バウンダリスキャンによるサーバーボードテストの改善
- バウンダリスキャンによるテストカバレッジ分析の強化
- インサーキットテスターへのバウンダリスキャン統合方法
サービスとサポート
厳選されたサポートプランと、優先的な対応および迅速なターンアラウンドタイムにより、迅速なイノベーションを実現します。
予測可能なリースベースのサブスクリプションとフルライフサイクル管理ソリューションにより、ビジネス目標をより迅速に達成できます。
KeysightCareのサブスクライバーとして、コミットされた技術サポートなど、より質の高いサービスをご体験ください。
テストシステムが仕様どおりに動作し、ローカルおよびグローバルな標準に準拠していることを保証します。
社内での講師主導トレーニングやeラーニングにより、迅速に測定を実施できます。
キーサイトのソフトウェアをダウンロードするか、最新バージョンにアップデートしてください。
よくあるご質問
バウンダリスキャン解析は、物理的なテストプローブを使用せずに、プリント基板（PCB）上の相互接続をテストするものです。準拠デバイスに組み込まれたスキャンチェーンからピンの状態に直接アクセスし、制御するためにIEEE 1149.1 (JTAG) 標準を活用します。この手法は、高密度コンポーネントを搭載し、物理的なアクセスが制限されている最新のPCBにとって特に価値があります。ピンをプロービングする代わりに、バウンダリスキャンはデジタル信号を内部で操作し、オープン、ショート、その他の構造的欠陥を検出します。これは、初期段階のプロトタイプ検証、ボードの立ち上げ、および生産テストのための強力なツールです。
さらに、バウンダリスキャンアナライザは、フラッシュメモリやFPGAのインシステムプログラミングをサポートしており、これにより個別のプログラミングステーションの必要性が低減されます。バウンダリスキャンは、複雑なボードレイアウトの効率的なテストとデバッグを可能にするため広く採用されており、特に、小型化や部品パッケージングの傾向により従来のテスト方法が制限される場合に有効です。
従来のインサーキットテストでは、ベッド・オブ・ネイルテスターやフライングプローブシステムを使用して、PCB上の多数のテストポイントと物理的に接触する必要があります。基板がより小型化、多層化するにつれて、これらのテストポイントへのアクセスはますます困難かつ高価になります。バウンダリスキャンは、スキャン対応コンポーネントを介した仮想アクセスを提供することで、この依存性の多くを排除し、必要なテストプローブの数とフィクスチャの複雑さを大幅に削減します。これにより、より小型で安価なテストフィクスチャと、より迅速なセットアップ時間が実現します。
維持および校正する機械的インターフェースが少ないため、継続的なメンテナンスコストも削減されます。多くのテストはソフトウェアを介して再利用または更新できるため、新しいボードリビジョンへの変更はより管理しやすく、費用対効果が高くなります。このアプローチにより、メーカーは追加のフィクスチャ再設計費用を発生させることなく、設計変更やテスト計画の更新に迅速に適応できるため、バウンダリスキャンは少量生産環境と大量生産環境の両方にとって、非常にスケーラブルで費用対効果の高いソリューションとなります。
はい。バウンダリスキャンは、デジタル信号線間のオープン回路やショートの検出に一般的に使用されますが、より広範なテスト戦略に統合されると、その機能はさらに拡張されます。例えば、回路の期待される論理動作を検証することで、欠落または誤配置されたコンポーネントを特定できます。また、スタックアット故障や特定の信号完全性問題、特にデジタル通信バスにおける問題の検出にも役立ちます。
高度なツールと併用したり、機能テスト手法と組み合わせたりすることで、バウンダリスキャン分析は、メモリ、ロジックゲート、プログラマブルデバイスなどの特定のデバイスに対して診断フィードバックを提供できます。また、特定の条件下でデバイスの向きや電源ピンおよびグランドピン間の接続性を検証することも可能です。バウンダリスキャン分析は、すべての形式の電気テスト (アナログテストや複雑な機能検証など) を置き換えることを意図しているわけではありませんが、アクセスが困難な領域での故障カバレッジを大幅に向上させます。これは、ボードレベルのテスト全体の信頼性を向上させるための他の戦略を補完します。
バウンダリスキャンアナライザは、JTAGポートまたはバウンダリスキャンインターフェースを介してマイクロコントローラ、FPGA、フラッシュメモリなどのデバイスに直接アクセスできるため、インシステムプログラミング（ISP）に非常に適しています。これにより、ボードにはんだ付けされた後でもデバイスのプログラミングが可能になり、物流の複雑さを軽減し、事前プログラムされた部品の必要性を排除します。インシステムプログラミングの柔軟性により、生産サイクルの後半やフィールドアップデート中にファームウェアや設定データを変更できます。また、プログラミングステップをテストシーケンスに組み込むことで自動製造フローを促進し、オペレータの処理時間を短縮します。
バウンダリスキャンを介したISPは、複数の製品バリアントが生産される環境や、頻繁なファームウェア変更が必要な場合に特に価値があります。これにより、在庫リスクが最小限に抑えられ、最終テストまたはボードの立ち上げ時に常に最新のファームウェアがプログラムされることが保証され、製造プロセス全体の効率が向上し、バージョン管理が簡素化されます。
はい。バウンダリスキャンアナライザは、特に速度、再現性、自動化が不可欠な大量生産において非常に効果的です。ソフトウェア駆動であるため、自動テスト装置や製造実行システム (MES) との容易な統合が可能です。テスト計画が一度開発されれば、手動での介入を最小限に抑えながら複数のユニットで再利用できます。バウンダリスキャンテストは通常、数秒で実行される高速なものであり、複雑なフィクスチャや手動プロービングを必要としないため、迅速なスループット環境に最適です。
バウンダリスキャナの診断精度により、故障を迅速に特定でき、手直しにかかる時間を短縮し、歩留まりを向上させます。バウンダリスキャンアナライザは、リアルタイムの故障ロギングと分析もサポートしており、これはインダストリー4.0の取り組みにとってますます重要になっています。コスト、品質、効率を最適化しようとしている大規模メーカーにとって、バウンダリスキャンアナライザは、プロトタイプ検証から量産までうまくスケールする実績のあるソリューションです。