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x1149バウンダリ・スキャン・アナライザ
バウンダリスキャン/JTAG技術用IEEE 1149.x規格に基づく電気構造テストおよびプログラミングツール。
スタート価格:
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ハイライト
x1149 バウンダリ・スキャン・アナライザ、多目的で簡単に使用できる基板テストツール
x1149は、エンジニア向けのPCBAの構造テスト（オープン／ショートテストなど）用のツールです。 また、フィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ(FPGA)や複合プログラマブル・ロジック・デバイス (CPLD)などのデバイスのインシステムプログラミングも可能です。
さらに、x1149はPROM (Programmable Read-Only Memory) デバイスをプログラムし、DDR SDRAM (Double Data Rate Synchronous Dynamic Random-Access Memory) などのデバイスのメモリ検証テストを実行します。これにより、これらのデバイスをインシステムでプログラムおよび再プログラムすることができ、開発時の柔軟性と制御性が向上します。 高度なテスト機能と使いやすいソフトウェアを備えたキーサイトx1149は、回路基板テストのあらゆるニーズに対応する理想的なソリューションです。
x1149 2.1の機能
- IEEE規格
- 1149.1-2013 (新)
- 1149.6-2015 (新)
- 1149.1-2001
- 1149.6-2003
- 1687-2014
- インサートソース言語(ISL) 2.0を搭載したカスタムテスト
- オートバンクおよびスキャン・パス・リンカをサポート
- 1149.1および1149.6-2015規格のための新しいBSDLエクステンション
- 1149.1規格と1149.6規格の両方で、IPパッケージとプログラマブル機能をより柔軟にサポート
テスト開発
- コネクタおよび非バウンダリスキャンICのテストカバレージを最大化
- 優れたデバッグツール
- すぐに利用できるピンレベルの不具合レポート
- インシステムプログラミング
アプリケーション
- Netcom、サーバー製品、および自動車顧客のための優れたテストカバレージ
- 基板テストおよび内蔵測定システムテスト用IEEE 1687ソリューション
- スキャン・パス・リンカの自動設定
主な仕様
最適なx1149ソフトウェアサブスクリプションの検索
キーサイトx1149 2.1の新機能
IEEE 1149.1-2013の新規格に対応し、以下のテスト機能により、テストカバレージの約75 %向上が期待できます：
- ニーモニックコードのレジスタ
- IC リセット制御
- コンポーネント初期化メカニズム
- セグメント別バウンダリ・スキャン・レジスタ
- パワー・ドメイン・サポート
- テストモード残光表示
- 電子チップ識別(ECID)
- 手順記述言語(PDL)
現在、2.1バージョンでは、IEEE 1149.6-2015に準拠したテストが追加されています。
IEEE 1149.6-2015は、1149.6規格の最新版です。 このバージョンの1149.6は、超高速(1+Gb/s)デジタル・データ・パスにおけるAC結合コンデンサ検出と差動相互接続の強化に重点を置いています。 この規格に含まれるテストタイプは、インターコネクトドット 6、バス・ワイヤ・ドット 6、ショート・キャップ・ドット 6 です。
IEEE 1149.1-2013および1149.6-2015に準拠することの価値は、以下を可能にすることにあります：
- 基板およびシステムのテストにおけるコスト削減。
- 高度に自動化され、高い診断分解能を持つテストの準備、実行、解釈。
- デバイスの特性やパラメータが異なる場合でも、テスト中複数のベンダーのデバイスの動作を促進。
x1149 バウンダリ・スキャン・アナライザの機能拡張
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