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x1149 바운더리 스캔 분석기

새로운 x1149 바운더리 스캔 분석기는 전기 구조 테스트를 위한 도구로, IEEE 1149.x 표준을 기반으로 JTAG Technologies의 강력한 바운더리 스캔 기능을 갖추었습니다.

제품 이미지

  • Tap IO ports

    4

  • Remote test configurability

    Yes

  • CET ports

    1

  • System width

    120 mm

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견적 준비 완료

포함된 내용과 키사이트의 사용 가능한 업그레이드 옵션을 확인하십시오.

하이라이트

x1149 바운더리 스캔 분석기 - 사용하기 쉽지만 다양한 기능을 갖춘 보드 테스트 도구

엔지니어들은 x1149를 활용하여 PCBA에서의 개방 및 단락 테스트와 같은 구조적 테스트를 수행할 수 있습니다. FPGA(Field Programmable Gate Array) 및 CPLD(Complex Programmable Logic Device)와 같은 디바이스를 위한 시스템 내 프로그래밍도 수행합니다.

또한 x1149는 PROM(Programmable Read-Only Memory) 디바이스를 프로그래밍하고 DDR SDRAM(Double Data Rate Synchronous Dynamic Random-Access Memory)과 같은 디바이스에서 메모리 검증 테스트를 실행합니다. 따라서 시스템 내에서 이러한 디바이스를 프로그래밍하고 다시 프로그래밍할 수 있어 개발 중 유연성과 제어력이 향상됩니다. 고급 테스트 기능과 사용자 친화적인 소프트웨어를 갖춘 키사이트 x1149는 필요한 모든 회로 기판 테스트에 적합한 솔루션입니다.

x1149 2.1의 특징

  • IEEE 표준
    • 1149.1-2013(신규)
    • 1149.6-2015(신규)
    • 1149.1-2001
    • 1149.6-2003
    • 1687-2014
  • Insert Source Language(ISL) 2.0을 사용한 맞춤형 테스트
  • Autobank 및 Scan Path Linker 지원
  • 1149.1 및 1149.6-2015 표준을 위한 새로운 BSDL 확장
  • 1149.1 및 1149.6 표준 모두에서 IP 패키지 및 프로그래밍 가능 기능에 대한 더 뛰어난 지원과 유연성

테스트 개발

  • 커넥터 및 비바운더리 스캔 IC에 대한 테스트 커버리지 극대화
  • 뛰어난 디버그 도구
  • 유용한 핀 레벨 장애 보고
  • 시스템 내 프로그래밍

애플리케이션

  • Netcom, 서버 제품 및 자동차 고객을 위한 뛰어난 테스트 커버리지
  • 보드 테스트 및 임베디드 계층 테스트를 위한 IEEE 1687 솔루션
  • Scan Path Linker의 자동 구성

서비스 및 지원