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雙向故障注入探棒

DS1121B 雙向故障注入探針可將高功率電磁（EM）脈衝傳送至目標裝置上由使用者精確指定的位置。其快速脈衝產生功能專為滿足商用及認證測試環境的嚴格要求而設計。

產品影像

  • 最高頻率

    1 MHz

  • Maximum voltage

    100 V ± 10%

  • Technology

    Device Security

  • 產品類型

    Bidirectional fault injection probe

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瞭解包含哪些項目，並探索 Keysight 提供的可用升級選項。

焦點訊息

是德科技（Keysight）的 Inspector 軟體可全面控制 EMFI 探針的設定，包括探針定位、XY 平台移動以及攝影機操作。該平台支援自動化測試執行及簡化報告生成，以利於測試結果的分析與優化。此雙向探針可獨立運作、在自訂設定中運作，或整合至現有的使用者自定義硬體與軟體框架中。 

隨著晶片封裝日益複雜，以及採用精密的光敏感測器以防止光學雷射故障，這種用於故障注入情境的新測試向量可繞過傳統措施，並為高階安全測試邁出下一步。 

Keysight 雙向故障注入探棒提供以下功能： 

  • 內含全新且經過改良的擴大機單元 
  • 無需進行晶片拆封 
  • 支援可配置的高功率電磁脈衝，並配備可更換線圈，以實現多樣化的磁場分布 
  • 可透過軟體精確調整短而快的脈衝特性 
  • 與雷射療法相比，可降低裝置永久性損壞的風險 
  • 可在邏輯元件內實現針對性的位元翻轉 
  • 相容於是德科技 (Keysight) 的精密 XYZ 移動台及多模態雷射系統，適用於自動化掃描工作流程 
  • 隨附標準 EM-FI 瞬態線圈及新月形鐵氧體探頭 

服務與支援