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Sonde d'injection de défaut bidirectionnelle

La sonde d'injection de défauts bidirectionnelle DS1121B émet des impulsions électromagnétiques (EM) de forte puissance vers des emplacements précis, définis par l'utilisateur, sur un dispositif cible. Sa génération rapide d'impulsions est conçue pour répondre aux exigences strictes des environnements de test tant commerciaux que certifiés.

image_produit

  • Maximum frequency

    1 MHz

  • Maximum voltage

    100 V ± 10%

  • Technology

    Device Security

  • Product type

    Bidirectional fault injection probe

Prêt pour un devis

Découvrez ce qui est inclus et explorez les options de mise à niveau disponibles auprès de Keysight.

Points forts

Le logiciel Inspector de Keysight permet un contrôle total de la configuration de la sonde EMFI, notamment le positionnement de la sonde, le déplacement de la platine XY et le fonctionnement de la caméra. La plateforme prend en charge l'exécution automatisée des tests et la génération de rapports simplifiés afin de faciliter l'analyse et l'optimisation des résultats des tests. La sonde bidirectionnelle peut fonctionner de manière autonome, dans le cadre de configurations personnalisées, ou être intégrée à des infrastructures matérielles et logicielles existantes définies par l'utilisateur. 

Avec des boîtiers de puces de plus en plus complexes et des capteurs photosensibles sophistiqués destinés à prévenir les défaillances optiques des lasers, ce nouveau vecteur de test pour les scénarios d'injection de défauts contourne les mesures traditionnelles et franchit une nouvelle étape dans les tests de sécurité haut de gamme. 

La sonde d'injection de défaut bidirectionnelle Keysight offre les fonctionnalités suivantes : 

  • Comprend un amplificateur nouveau et amélioré 
  • Élimine la nécessité de déballer les puces 
  • Permet de générer des impulsions électromagnétiques configurables et de forte puissance grâce à des bobines interchangeables permettant d'obtenir divers profils de champ 
  • Permet un réglage précis des caractéristiques des impulsions courtes et rapides via le logiciel 
  • Réduit le risque de dommages irréversibles sur l'appareil par rapport aux méthodes utilisant le laser 
  • Permet d'inverser de manière ciblée des bits au sein des éléments logiques 
  • Compatible avec les platines XYZ de précision Keysight et les systèmes laser multimodes pour les flux de travail de balayage automatisés 
  • Fourni avec des bobines transitoires EM-FI standard et une sonde en ferrite en forme de croissant 

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