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양방향 결함 주입 프로브

DS1121B 양방향 결함 주입 프로브는 타겟 디바이스의 사용자가 정의한 정밀한 위치에 고출력 전자기(EM) 펄스를 전달합니다. 빠른 펄스 생성 기능은 상용 및 공인 테스트 환경의 엄격한 요구 사항을 충족하도록 설계되었습니다.

제품 이미지

  • Maximum frequency

    1 MHz

  • Maximum voltage

    100 V ± 10%

  • Technology

    Device Security

  • Product type

    Bidirectional fault injection probe

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하이라이트

키사이트의 Inspector 소프트웨어는 프로브 위치 지정, XY 스테이지 움직임, 카메라 조작을 포함하여 EMFI 프로브 설정을 완벽하게 제어할 수 있습니다. 이 플랫폼은 자동화된 테스트 실행과 간소화된 리포트를 지원하여 테스트 결과 분석 및 최적화를 용이하게 합니다. 양방향 프로브는 독립적으로 작동하거나 맞춤형 설정 내에서 작동할 수 있으며, 기존의 사용자 정의 하드웨어 및 소프트웨어 프레임워크에 통합될 수 있습니다. 

점차 까다로워지는 칩 패키지와 광학 레이저 결함을 방지하기 위한 정교한 감광 센서 환경에서, 결함 주입 시나리오를 위한 이 새로운 테스트 벡터는 기존의 측정 방식을 우회하고 하이엔드 보안 테스트의 다음 단계를 제시합니다. 

키사이트 양방향 결함 주입 프로브는 다음과 같은 기능을 제공합니다. 

  • 새롭고 향상된 증폭기 유닛 포함 
  • 칩 패키지 제거 작업 불필요 
  • 다양한 필드 프로파일을 위한 교체형 코일이 장착된, 구성 가능한 고출력 EM 펄스 지원 
  • 소프트웨어를 통한 짧고 빠른 펄스 특성의 정밀한 조정 가능 
  • 레이저 기반 방식에 비해 영구적인 디바이스 손상 위험 감소 
  • 로직 소자 내에서 타겟팅된 비트 플립(bit flip) 활성화 
  • 자동화된 스캔 워크플로를 위해 키사이트 정밀 XYZ 스테이지 및 멀티모드 레이저 시스템과 호환 
  • 표준 EM-FI 과도 코일 및 초승달 모양의 페라이트 프로브 제공 

서비스 및 지원