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양방향 결함 주입 프로브

DS1121B 양방향 결함 주입 프로브는 대상 장치의 사용자가 정밀하게 지정한 위치에 고출력 전자기(EM) 펄스를 전달합니다. 이 프로브의 신속한 펄스 생성 기능은 상용 및 인증 테스트 환경 모두의 엄격한 요구 사항을 충족하도록 설계되었습니다.

제품 이미지

  • Maximum frequency

    1 MHz

  • Maximum voltage

    100 V ± 10%

  • Technology

    Device Security

  • Product type

    Bidirectional fault injection probe

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하이라이트

키사이트의 Inspector 소프트웨어는 프로브 위치 조정, XY 스테이지 이동, 카메라 작동 등을 포함하여 EMFI 프로브 설정을 완벽하게 제어할 수 있게 해줍니다. 이 플랫폼은 자동화된 테스트 실행과 간소화된 보고서 기능을 지원하여 테스트 결과의 분석 및 최적화를 용이하게 합니다. 양방향 프로브는 독립적으로 작동하거나, 사용자 지정 설정 내에서 사용될 수 있으며, 기존 사용자 정의 하드웨어 및 소프트웨어 프레임워크에 통합될 수도 있습니다. 

칩 패키지의 복잡성이 점점 더 높아지고, 광학 레이저 결함을 방지하기 위한 정교한 광감지 센서가 도입됨에 따라, 결함 주입 시나리오를 위한 이 새로운 테스트 벡터는 기존의 측정 방식을 뛰어넘어 최첨단 보안 테스트의 새로운 단계로 나아가고 있습니다. 

키사이트의 양방향 결함 주입 프로브는 다음과 같은 기능을 제공합니다: 

  • 새롭게 개선된 앰프 유닛이 포함되어 있습니다 
  • 칩 디패키징 과정이 필요 없어집니다 
  • 다양한 자기장 프로파일을 구현할 수 있도록 교체 가능한 코일을 통해 구성 가능한 고출력 EM 펄스를 지원합니다. 
  • 소프트웨어를 통해 짧고 빠른 펄스 특성을 정밀하게 조정할 수 있습니다. 
  • 레이저 기반 방식에 비해 기기의 영구적인 손상 위험을 줄여줍니다 
  • 논리 소자 내에서 특정 비트를 선택적으로 반전시킬 수 있게 합니다 
  • 자동화된 스캐닝 워크플로우를 위해 키사이트 정밀 XYZ 스테이지 및 다중 모드 레이저 시스템과 호환됩니다. 
  • 표준 EM-FI 과도 응답 코일과 초승달 모양의 페라이트 프로브가 함께 제공됩니다. 

서비스 및 지원