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雙向故障注入探棒

DS1121B 雙向故障注入探棒可將高功率電磁（EM）脈衝傳送至目標裝置上精確且使用者自訂的位置。其快速脈衝產生功能旨在滿足商業和認證測試環境的嚴格要求。

產品影像

  • 最高頻率

    1 MHz

  • Maximum voltage

    100 V ± 10%

  • Technology

    Device Security

  • 產品類型

    Bidirectional fault injection probe

準備好取得報價

瞭解包含哪些項目，並探索 Keysight 提供的可用升級選項。

焦點訊息

Keysight 的 Inspector 軟體可完整控制 EMFI 探棒設定，包括探棒定位、XY 平台移動和相機操作。該平台支援自動化測試執行與簡化的報表，以利分析和最佳化測試結果。此雙向探棒可獨立運作、在自訂設定中運作，或整合至現有的使用者自訂硬體與軟體架構中。 

隨著晶片封裝日益複雜，以及採用精密的光敏感測器以防止光學雷射故障，這種用於故障注入情境的新測試向量可繞過傳統措施，並為高階安全測試邁出下一步。 

Keysight 雙向故障注入探棒提供以下功能： 

  • 包含全新改良的放大器單元 
  • 免除晶片去封裝的需求 
  • 支援可配置的高功率電磁脈衝，並可搭配可互換的線圈以適應不同的場型分佈 
  • 允許透過軟體精確調整短而快的脈衝特性 
  • 與基於雷射的方法相比，降低了裝置永久損壞的風險 
  • 能夠在邏輯元件內進行針對性的位元翻轉 
  • 相容於 Keysight 精密 XYZ 平台與多模雷射系統，適用於自動化掃描工作流程 
  • 隨附標準 EM-FI 瞬態線圈與弦月形鐵氧體探棒 

服務與支援