ワイドバンドギャップ半導体をテストする方法

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ダブルパルステストによるWBG半導体の特性評価

窒化ガリウム(GaN)などのワイドバンドギャップ(WBG)半導体材料では、スイッチング過渡応答中の損失を避けるための静的パラメータと動的パラメータの両方をテストすることが求められます。ダブルパルステスト(DPT)システムは、WBG半導体向けのJEDEC規格に基づき、ターンオン、ターンオフ、スイッチング、リバースリカバリー、ゲートチャージなどのダイナミックテストを行うことができます。

DPTシステムは、測定器、プローブ、安全システム、自動制御ソフトウェア、自動校正ルーチン、テストフィクスチャ、およびさまざまなデバイス構成用のテストボードで構成されている必要があります。また、負荷インダクターも必要です。機器をセットアップしたら、ソフトウェアのハードウェア設定メニューでボードパラメータを入力して、必要な外部インダクターとその値を指定します。次に、R²GC電流センサをセットアップします。それを完了したら、デバイスを選択してテストを設定します。

ダブルパルス・テスト・ソリューション

半自動化された校正方法と測定技術により、ダブルパルステスト(DPT)を実行します。キーサイトPD1500Aダイナミック・パワー・デバイスアナライザ／ダブルパルステスターは、JEDEC仕様に準拠したワイドバンドギャップ(WBG)(SiC、GaN)パワー半導体のダイナミック特性を信頼性と再現性高く測定できるオールインワン・テスト・ソリューションです。プローブ補正、オフセット調整、スキュー補正、コモン・モード・ノイズ除去などの測定技術が搭載されています。

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